在穿过式线圈的涡流探伤仪中,标定用的标准试样是用来()。A、保证仪器的重复性和可靠性B、精确标定缺陷深度C、降低震动的敏感性D、测量检验频率

在穿过式线圈的涡流探伤仪中,标定用的标准试样是用来()。

  • A、保证仪器的重复性和可靠性
  • B、精确标定缺陷深度
  • C、降低震动的敏感性
  • D、测量检验频率

相关考题:

在一个涡流线圈系统中,当传感线圈放于激励线圈附近时,会发生下面哪一种情况?()A、穿过两个线圈的磁通量差不多相同;B、来自任一线圈的信号均可用来提供关于试样的信息;C、这种排列对小缺陷不灵敏;D、以上都是;E、A和B

在穿过式线圈的涡流探伤仪中,检验频率由下列哪项控制?()A、示波器B、灵敏度旋钮位置C、振荡器D、调制频率旋钮位置

下列哪种涡流检测线圈是将试样的一部分作参考标准与试样的另一部分进行比较?()A、单个绝对式线圈B、双个绝对式线圈C、直流磁饱和线圈D、差动式线圈

在穿过式线圈涡流系统中,标准试样可用来().A、保证检验工作的重复性和可靠性B、确定仪器的灵敏度或裂纹的深度C、测量试验频率D、a和b

在穿过式线圈的涡流探伤仪中,要将标定用标准试样上的缺陷以不同位置(如缺陷向上、向左、向右)几次通过线圈,其目的是()。A、校核相位灵敏度B、保证试样与线圈的对中C、选择调制频率的旋钮位置D、选择合适的检验速度

涡流检测线圈中次级绕组的主要作用是()。A、在试样中感应出涡流B、检出涡流的变化C、在试样中感应出涡流和检出涡流的变化D、提供直流磁饱和

用差动式线圈比较标准试样与被检工件时,仪器应用下列哪一项调节平衡?()A、一个线圈中的标准试样B、一个线圈中的参考标准试样和另一个线圈中的合格工件C、一个线圈中工件

在穿过式围绕线圈涡流系统中,校准标准可用来()A、保证调整的重复性可靠性;B、校准可检出的缺陷的近似深度;C、A和B;D、测量试验频率.

在穿过式围绕线圈涡流系统中,转动试样,使试样上的缺陷处在不同位置(如上、下、左、右)的目的是什么?()A、为了检查相位选择性;B、为了保证材料位于试验线圈中心;C、为了选择调制分析的调节值;D、为了选择正确的试验速度

用哪种线圈可同时检查试样整个圆周?()A、穿过式线圈B、探头式线圈C、次级绕组D、上述三种都不是

涡流检测常用的检测方式是()。A、穿过式线圈法B、探头式线圈法C、内探头线圈法D、以上都是

涡流探伤中的填充系数是()。A、试件的固有属性B、穿过式线圈的固有属性C、与试件和穿过式线圈均有关系的一个性能D、以上全对

在穿过式线圈涡流系统中,转动试样使试样上的缺陷处在不同位置上(如上、下、左、右)的目的是什么?

在涡流法检验中,试样与线圈之间是()进行耦合的。

穿过式线圈涡流检测局限性是什么?

单选题涡流探伤中的填充系数是()。A试件的固有属性B穿过式线圈的固有属性C与试件和穿过式线圈均有关系的一个性能D以上全对

单选题在穿过式线圈的涡流探伤仪中,检验频率由下列哪项控制?()A示波器B灵敏度旋钮位置C振荡器D调制频率旋钮位置

单选题在穿过式线圈涡流系统中,标准试样可用来().A保证检验工作的重复性和可靠性B确定仪器的灵敏度或裂纹的深度C测量试验频率Da和b

单选题有一种涡流线圈它既不能对试样两个部分进行比较又不能对试样的一个部分与标准试样进行比较,这种线圈称为()。A绝对式线圈B自比差动式线圈C他比差动式线圈D上述三项都是

单选题在穿过式线圈的涡流探伤仪中,标定用的标准试样是用来()。A保证仪器的重复性和可靠性B精确标定缺陷深度C降低震动的敏感性D测量检验频率

单选题在穿过式围绕线圈涡流系统中,转动试样,使试样上的缺陷处在不同位置(如上、下、左、右)的目的是什么?()A为了检查相位选择性;B为了保证材料位于试验线圈中心;C为了选择调制分析的调节值;D为了选择正确的试验速度

单选题下列哪种涡流检测线圈是将试样的一部分作参考标准与试样的另一部分进行比较?()A单个绝对式线圈B双个绝对式线圈C直流磁饱和线圈D差动式线圈

单选题在穿过式线圈的涡流探伤仪中,要将标定用标准试样上的缺陷以不同位置(如缺陷向上、向左、向右)几次通过线圈,其目的是()。A校核相位灵敏度B保证试样与线圈的对中C选择调制频率的旋钮位置D选择合适的检验速度

单选题用差动式线圈比较标准试样与被检工件时,仪器应用下列哪一项调节平衡?()A一个线圈中的标准试样B一个线圈中的参考标准试样和另一个线圈中的合格工件C一个线圈中工件

单选题涡流检测线圈中次级绕组的主要作用是()。A在试样中感应出涡流B检出涡流的变化C在试样中感应出涡流和检出涡流的变化D提供直流磁饱和

单选题在穿过式围绕线圈涡流系统中,校准标准可用来()A保证调整的重复性可靠性;B校准可检出的缺陷的近似深度;CA和B;D测量试验频率.

问答题在穿过式线圈涡流系统中,转动试样使试样上的缺陷处在不同位置上(如上、下、左、右)的目的是什么?