LPCVD淀积多晶硅常用温度为600-650℃,采用热分解法,反应方程式为:()。A.SiCl4→Si+2Cl2B.Si3N4→3Si+2N2C.SiH4 →Si+2H2D.SiH2Cl2→Si+Cl2+H2

LPCVD淀积多晶硅常用温度为600-650℃,采用热分解法,反应方程式为:()。

A.SiCl4→Si+2Cl2

B.Si3N4→3Si+2N2

C.SiH4 →Si+2H2

D.SiH2Cl2→Si+Cl2+H2


参考答案和解析
SiH 4 →Si+2H 2

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电解法生产烧碱的电解反应为( )(反应方程式)。

()为机械能形式表示的能量方程式。 A、伯努利方程式B、热焓方程式

A.恒为常数,并与反应方程式的写法有关B.由反应方程式的写法而定C.随平衡浓度及平衡分压而定D.由加入反应物的量而定

一定温度下,某反应的标准平衡常数K Θ 的数值:(A)恒为常数,并与反应方程式的写法有关(B)由反应方程式的写法而定(C)随平衡浓度及平衡分压而定(D)由加入反应物的量而定

热蒸发法淀积薄膜的淀积速率与哪些因素有关?淀积速率的测量采用什么办法?

热解法中热解室的温度为()。A、300~650℃B、100~500℃C、200~650℃D、100~650℃

常用的炉料配置方法有表格核算法、解联立方程式法、图解法等。

采用LPCVD TEOS淀积的是什么膜?这层膜的优点是什么?

热分解化学气相淀积二氧化硅是利用()化合物,经过热分解反应,在基片表面淀积二氧化硅。

对于某种薄膜的CVD过程,淀积温度为900℃,质量传输系数hG=10cms-1,表面反应速率系数ks=1×107exp(-1.9eV/kT)cms-1。现有以下两种淀积系统可供选择(1)冷壁,石墨支座型;(2)热壁,堆放硅片型。应该选用哪种类型的淀积系统并简述理由。

二氧化硅的制备方法很多,其中最常用的是高温()、()淀积、PECVD淀积。

在热扩散工艺中的预淀积步骤中,砷和锑的扩散温度为()。A、1050~1200℃B、900~1050℃C、1100~1250℃D、1200~1350℃

牌号为Q235,材料厚度为50mm左右,层间温度()℃,回火温度为600-650℃。A、<350B、<450C、<550D、<650

消除应力退火的加热温度一般为()。A、150-250℃B、350-450℃C、600-650℃D、700-750℃

变换反应的最佳反应温度与下列项目无关的是()。A、活化能B、动力学方程式C、反应热D、平衡温度

有哪几种常用的化学气相淀积薄膜的方法?

在热扩散工艺中的预淀积步骤中,磷的扩散温度为()。A、600~750℃B、900~1050℃C、1100~1250℃D、950~1100℃

CUMS柴油机怠速,其转速达600-650转/分,油压为()以上,电压为()左右。

判断题实现对CVD淀积多晶硅掺杂主要有三种工艺:扩散、离子注入、原位掺杂。由于原位掺杂比较简单,所以被广泛采用。A对B错

判断题在一个化学气相淀积工艺中,如果淀积速率是反应速率控制的,则为了显著增大淀积速率,应该增大反应气体流量。A对B错

判断题LPCVD多晶硅和氮化硅等薄膜易形成保形覆盖,在低温APCVD中,非保形覆盖一般比较常见。A对B错

判断题LPCVD紧随PECVD的发展而发展。由660℃降为450℃,采用增强的等离子体,增加淀积能量,即低压和低温。A对B错

判断题在LPCVD中,由于hGkS,即质量转移系数远大于表面反应速率常数,所以,LPCVD系统中,淀积过程主要是质量转移控制A对B错

判断题在LPCVD中,由于hGkS,即质量转移系数远大于表面反应速率常数,所以,LPCVD系统中,淀积过程主要是表面反应速率控制A对B错

判断题LPCVD系统中淀积速率是受表面反应控制的,APCVD系统中淀积速率受质量输运控制。A对B错

填空题缩略语PECVD、LPCVD、HDPCVD和APCVD的中文名称分别是()、()、高密度等离子体化学气相淀积和()。

单选题一定温度下,某反应的标准平衡常数K0in数值()。A恒为常数,并与反应方程式的写法有关B由反应方程式的写法而定C随平衡浓度及平衡分压而定D由加入反应物的量而定

填空题CUMS柴油机怠速,其转速达600-650转/分,油压为()以上,电压为()左右。