填空题用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。

填空题
用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。

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相关考题:

对钢板的主要检验项目是()。 A、平面度和厚度公差B、直线度和平面度C、直线度和厚度公差D、平面度和断面垂直度

千分尺的平面度是用()平面平晶进行检定的,它是根据()原理,利用光波干涉法进行的。

用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。 A、0.9μmB、0C、1.8μm

在使用平晶时,如果用手触摸平晶时间过长,会使平晶平面度()。 A、变凹B、变凸C、不变

用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。 A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉

用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔干涉条纹,则其平面度为()。A、0.9μmB、0C、1.8μm

用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。

用平面平晶检查平面度时,如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时,其平面度是()。A、0.9μmB、0C、0.3μm

测量平面度误差时,常将平面平晶工作面贴在被测表面上,并稍加压力,就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多,则平面度误差()。

用半晶干涉法测量小平面的平面度,这种测量方法符合()。A、最小条件B、包容原则C、相关原则

用平晶检测平面度,有时看不见干涉条纹,这可能是由于()。A、被测表面不光洁B、被测表面平面度很差C、被测表面有毛刺D、非金属材料表面折光不好

检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。

用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉

在检定平晶平面度时,如果用手角摸平晶进行调整的时间过长,会使平晶的平面度()。A、变凹B、变凸C、不变

检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?

用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?

将平面平晶放在工件表面上,如果工件表面是标准平面,则产生的干涉条纹是();如果工件表面呈凸、凹,则将看到若干个()条纹。

当光的入射角一定时,光程差仅与薄膜厚度有关的干涉现象叫等厚干涉。这种干涉条纹叫做等厚干涉条纹。劈尖干涉和牛顿环干涉均属此类。

单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

单选题用平面平晶检查平面度时,如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时,其平面度是()。A0.9μmB0C0.3μm

单选题用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。A球面干涉B等厚干涉C等倾干涉

单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉

单选题用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔干涉条纹,则其平面度为()。A0.9μmB0C1.8μm

单选题用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。A0.9μmB0C1.8μm

填空题将平面平晶放在工件表面上,如果工件表面是标准平面,则产生的干涉条纹是();如果工件表面呈凸、凹,则将看到若干个()条纹。

问答题检定千分尺测量面平面度时,初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹,主要原因是什么?