采用直探头探伤时，荧光屏上产生杂波和无规则信号的原因可能是( )。A、细晶组织B、耦合剂不清洁C、表面粗糙D、粗晶组织
粗晶材料探伤通常选用的超声频率为（ ）。A.2.5MHzB.1.25MHzC.5MHzD.10MHz
常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（ ）。A.射线探伤B.涡流探伤C.磁性探伤D.渗透探伤
粗晶材料的探伤可选用()频率的探头A.2.5MHzB.1.25MHzC.5MHzD.10MHz
常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（ ）。2013A．射线探伤B．涡流探伤C．磁性探伤D．渗透探伤
常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是()。 2013年A . 射线探伤B . 涡流探伤C . 磁性探伤D . 渗透探伤
（2013年真题）常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（ ）A.射线探伤 B.涡流探伤 C.磁性探伤 D.渗透探伤
适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法有()。A、射线探伤B、超声波探伤C、渗透探伤D、磁性探伤E、涡流探伤
下列焊缝质量检测方法中，适合于检测焊缝表面缺陷的方法有（ ）。A.射线探伤B.超声波探伤C.渗透探伤D.磁性探伤E.：光谱分析
适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法是（ ）。A.射线探伤B.磁粉探伤C.超声探伤D.涡流探伤E.渗透探伤
适合于磁粉探伤的材料是（）A、顺磁性材料B、有色金属C、铁磁性材料D、抗磁性材料
热裂纹产生的主要原因是熔池在结晶过程中存在（）。A、淬硬组织B、低熔点共晶和杂质C、粗晶D、淬硬组织和粗晶
在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是
粗晶材料的探伤可选用（）频率的探头A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz
下列哪一处无损探伤方法对探险测非铁性金属的晶界腐蚀最有效？（）A、光谱检查。B、X光探伤。C、磁力探伤。D、涡流探伤。
在超声波检测中，如果使用的探测频率过高，在探测粗晶材料时会出现（）
用频率较高的横波进行探伤可增大超声波在粗晶材料中的穿透能力。
GB/T4162-2008检验方法不适用于奥氏体粗晶钢棒的超声波探伤
在常用的五种探伤方法中，（）探伤只能检查铁磁性材料。A、射线B、磁粉C、渗透D、涡流
常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（）。A、射线探伤B、涡流探伤C、磁性探伤D、渗透探伤
粗晶材料探伤通常选用的超声频率为（）。A、2.5MHzB、1.25MHzC、5MHzD、10MHz
单选题适合于磁粉探伤的材料是（）A顺磁性材料B有色金属C铁磁性材料D抗磁性材料
单选题在下列方法中，适合于粗晶材料探伤的是（）A采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B将接触法探伤改为液浸法探伤C采用小直径探头探伤D以上都是
多选题适合于焊缝内部缺陷的无损检测方法是（）。A射线探伤B磁粉探伤C超声探伤D涡流探伤E渗透探伤
单选题根据其颗粒的绝对大小可划分为：（）A等粒变晶结构；不等粒变晶结构；斑状变晶结构B粗粒变晶结构；中粒变晶结构；细粒变晶结构。C极粗粒变晶结构；粗粒变晶结构；中粒变晶结构；细粒变晶结构。D粗粒变晶结构；中粒变晶结构；细粒变晶结构；微粒变晶结构。
单选题常用的焊缝无损检测方法中，适合于焊缝内部缺陷检测的方法是（）A射线探伤B涡流探伤C磁性探伤D渗透探伤