单选题在测量系统分析时，我们知道总变异等于测量系统的变异加上样本的变异，其中测量系统的变异又是由以下哪一对变异造成的？（）A系统方差和偏倚B噪声系统和重复性C操作员的变异和仪器的变异D重复性的变异和再现性的变异
单选题
在测量系统分析时，我们知道总变异等于测量系统的变异加上样本的变异，其中测量系统的变异又是由以下哪一对变异造成的？（）
A
系统方差和偏倚
B
噪声系统和重复性
C
操作员的变异和仪器的变异
D
重复性的变异和再现性的变异
参考解析
解析：
暂无解析
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完全随机设计资料的方差分析的基本思想是A．总变异等于组间变异和组内变异之和B．总变异等于组间变异和组内变异之积C．总均方等于组间均方和组内均方之积D．总均方等于组间均方和组内均方之和E．总变异等于处理组间变异、区组间变异和误差变异之和
在测量系统分析时，我们知道总变异等于测量系统的变异加上样本的变异，其中测量系统的变异又是由以下哪一对变异造成的？（）A、系统方差和偏倚B、噪声系统和重复性C、操作员的变异和仪器的变异D、重复性的变异和再现性的变异
根据以上结果可以判定：（）。A、由于P/T%=23.34%，小于30%，所以测量系统能力充分B、由于RR%=37.37%，大于30%，所以测量系统能力不足C、再现性变异是RR的主要部分D、重复性变异是RR的主要部分
完全随机设计资料的方差分析的基本思想是（）。A、总变异等于组间变异和组内变异之和B、总变异等于组间变异和组内变异之积C、总均方等于组间均方和组内均方之积D、总均方等于组间均方和组内均方之和E、总变异等于处理组间变异、区组间变异和误差变异之和
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多选题根据以上结果可以判定：（）。A由于P/T%=23.34%，小于30%，所以测量系统能力充分B由于RR%=37.37%，大于30%，所以测量系统能力不足C再现性变异是RR的主要部分D重复性变异是RR的主要部分
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