单选题ASME规范中,在管内中心轴处,作全圆周一次曝光,则应至少使用几个像质计?()A1个B2个C3个D4个

单选题
ASME规范中,在管内中心轴处,作全圆周一次曝光,则应至少使用几个像质计?()
A

1个

B

2个

C

3个

D

4个


参考解析

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使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为()A、改善像质计影像B、降低电子发射C、模拟焊缝的补强高度D、增强影像

按ASME规范要求,透照双面焊缝的使用孔型象质计,应在象质计下放垫板,垫板厚度应为上下焊缝余高之和。

下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

使用ASME孔洞型像质计#40,照射厚度2英寸之试件,评估底片时可见到一个孔洞(4T),请问其灵敏度为多少%?(请简要写出计算过程)

JB/T4730-2005中规定,环形焊接接头采用源置于中心周向曝光时,至少在圆周上等间隔的放置()个像质。A、1个B、2个C、3个D、4个

以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

最广泛使用的像质计型式主要是()A、丝型像质计B、阶梯孔型像质计C、平板孔型像质计D、以上都是

ASME中孔洞型像质计之缺角代表()A、材质B、编号C、厚度D、孔径

ASME规范中,在管内中心轴处,作全圆周一次曝光,则应至少使用几个像质计?()A、1个B、2个C、3个D、4个

照射厚度为25mm时,按ASME SectionV的规定,一般情况下应选用几号的像质计?()A、10B、20C、30D、50

按ASME规定,选择像质计厚度时,背衬或背环应不计算,这是()的A、对B、错C、管件要算,板件不算D、可任意

目前ASME规范的像质计的三个孔径大小是()A、1T、2T、3TB、1T、2T、4TC、2T、3T、4TD、3T、4T、5T

ASME规范建议管外径大于3.5英寸时采用双壁照相、单壁判读,至少曝光几次?()A、1B、2C、3D、4

周向曝光检验环焊缝时,像质计()。A、放置一只B、在180°象限内各放1只C、至少均匀放3只D、根据黑度要求而定

在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是:()A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧,但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

单选题JB/T4730-2005中规定,环形焊接接头采用源置于中心周向曝光时,至少在圆周上等间隔的放置()个像质。A1个B2个C3个D4个

单选题以下关于象质计放置的叙述,哪一条不符合ASME规范的有关规定()A通常每张底片上至少应有一个象质计;B环缝周向曝光中心透照法,至少应放4个象质计;C对于环缝垂直相交的纵焊缝,如与环焊缝同时曝光,则应在纵焊缝远端放一个象质计。D球形容器全景曝光则应在每条环缝各放3个象质计,其余焊缝,每条放1个象质计。

单选题按ASME规定,选择像质计厚度时,背衬或背环应不计算,这是()的A对B错C管件要算,板件不算D可任意

问答题使用ASME孔洞型像质计#40,照射厚度2英寸之试件,评估底片时可见到一个孔洞(4T),请问其灵敏度为多少%?(请简要写出计算过程)

单选题ASME规范建议管外径大于3.5英寸时采用双壁照相、单壁判读,至少曝光几次?()A1B2C3D4

单选题最广泛使用的像质计型式主要是()A丝型像质计B阶梯孔型像质计C平板孔型像质计D以上都是

单选题ASME中孔洞型像质计之缺角代表()A材质B编号C厚度D孔径

单选题使用ASME孔型透度计,现侧得透度计处黑度值为2.0,按ASME规范,有效评定区黑度范围应在()A1.8-4.0B1.2-3.5C2.0-2.6D1.5-3

单选题ASME规范关于象质计的有关规定是()A只能选用平板孔象质计B只能选用金属丝型象质计C两种象质计均可使用D板厚2英寸以下任意选择丝型或孔型,但2英寸以上必须使用孔型。

单选题使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为()A改善像质计影像B降低电子发射C模拟焊缝的补强高度D增强影像

判断题按ASME规范要求,透照双面焊缝的使用孔型象质计,应在象质计下放垫板,垫板厚度应为上下焊缝余高之和。A对B错

单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较