X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。
影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。
X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。此题为判断题(对，错)。
X射线荧光光谱仪可测出样品中的：（）.A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
无损伤鉴定宝石气相包裹体成分的方法有：（）.A、电子探针成分分析B、X射线荧光分析C、X射线能谱分析D、激光拉曼光谱分析
单选题油料光谱分析法按应用可分为（）光谱分析。 Ⅰ．原子吸收； Ⅱ．发射； Ⅲ．X射线荧光。AⅠ+ⅡBⅠ+ⅢCⅡ+ⅢDⅠ+Ⅱ+Ⅲ
问答题X射线光电子能谱分析和X射线荧光光谱分析的基本原里有哪些不同？分别有怎样的适用性？
多选题手持式X射线荧光光谱分析仪，以下不可检测的元素成分是（）AMoBBCSnDN