将控制限作为控制标准进行日常控制,必须满足的条件有( )。A.过程处于统计控制状态B.过程能力指数满足要求C.过程存在异常因素D.过程能力尚未充足E.控制限与公差限不一致

将控制限作为控制标准进行日常控制,必须满足的条件有( )。

A.过程处于统计控制状态

B.过程能力指数满足要求

C.过程存在异常因素

D.过程能力尚未充足

E.控制限与公差限不一致


相关考题:

分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A.状态Ⅰ:统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B.状态Ⅱ:统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态C.状态Ⅲ:统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D.状态Ⅳ:统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

根据上述计算结果,判断过程( )。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

使用控制用均值一极差控制图监控过程时,若根据某子组数据计算的样本点落在控制限外,则( )。A.需要重新计算控制限B.该子组中一定有不合格品C.可判定过程处于统计失控状态D.不能拒绝过程处于统计控制状态这个假设、

关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是( )。A.过程处于统计控制状态B.具有足够的生产能力C.过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D.过程处于统计控制状态但过程能力不足

关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

若过程处于统计控制状态,则控制图中的点子不超出上、下控制限的概率是( )。A.95.4%B.99.0%C.99.73%D.99.90%

关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的

关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

某产品质量特性的规范要求为16±2,拟利用均值一标准差控制图对其进行控 制。根据绘制的分析用控制图知过程处于统计控制状态,且X=16.2,s = 0.5。过程能力分析的结果表明当前过程能够满足顾客要求,故将分析用控制图转化为控制用控制图,继续监控过程。现从生产线上抽取一个样本量的子组,测量值分别为 16. 0, 15.5,16. 4, 17.0,17.1。已知控制图系数C4 =0. 94,A3=1.427。A.落在控制限外 B.落在控制限内C.形成异常链 D.落在中心线上方

分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,( )的控制线延长能作为控制用的控制图。A.状态I,统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B.状态II,统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态 C.状态III,统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D.状态IV,统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

加工一种轴承,其规格为(10±0.08) mm。要求CPK≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ=10. 04mm σ= 0. 02 mm。下列推断中,正确的是( )。A.过程处于统计控制状态和技术控制状态B.过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.过程未处于统计控制状态和技术控制状态

均值控制图显示最近有连续9个点落在中心线的同一侧,但均在控制限内,这说明( )。A.过程失控,过程中心出现系统偏移,应查找原因,及时纠正B.过程输出呈现趋势性变化,应重新计算控制界限C.样本点均在控制限内,过程处于统计控制状态D.过程受控,不会影响Cp和Cpk

关于过程状态的说法,正确的有( )。A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

-s图的绘图步骤包括( ),延长统计控制状态下的-s控制图的控制限,进入控制用控制图阶段,实现对过程的日常控制。 A.依据合理子组原则,取得预备数据C.计算-s图的控制限,绘制控制图D.与容差限比较,计算过程能力指数E.检验过程能力指数是否满足技术要求

若过程处于统计控制状态,则控制图中的点子不超出上、下控制限的概率是( )A. 95.4% B. 99.0%C. 99.73% D. 99. 90%

加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。根据上述计算结果,判断过程()。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

若过程处于统计控制状态,则控制图中的点子不超出上、下控制限的概率是( )。[2008年真题]A. 95. 4% B. 99. 0% C. 99. 73% D. 99. 90%

常规控制图对过程质量特性值进行测定、记录、评估,从而监察过程是否处于控制状态的一种用统计方法设计的图,图中组成部分有()。A、上、下控制限B、公差界限C、子样数据的描点序列D、控制中心线E、数组

以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(  )。[2006年真题]A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态

单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态,(  )的控制线延长能作为控制用的控制图。A状态Ⅰ,统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B状态Ⅱ,统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态C状态Ⅲ,统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D状态Ⅳ,统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态

单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题分析用控制图首先要分析过程是否处于稳态。以下四种()的控制线延长能作为控制用的控制图。A状态Ⅰ:统计控制状态与技术控制状态同时达到稳态B状态Ⅱ:统计控制状态未达到稳态,技术控制状态达到稳态C状态Ⅲ:统计控制状态达到稳态,技术控制状态未达到稳态D状态Ⅳ:统计控制状态与技术控制状态均未达到稳态