ICP—AES分析中,产生连续背景的因素有()、()、()和()4种。

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ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正?

用ICP-AES法测定时,背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。

影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个,即()、()和()。

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影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个,即()、()、()。

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ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离子干扰

ICP-AES法存在的主要干扰有()、()、()、()和()。

简述ICP—AES特点。

ICP-AES分析中,产生连续背景的因素有()、()、()和()4种。

ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。A、光谱干扰B、化学干扰C、电离干扰

ICP-AES法分析中,如存在连续背景干扰,必须要扣除光谱背景,否则标准曲线不通过原点。

单选题ICP-AES法测定时,连续背景和谱线重叠干扰属于()。A光谱干扰B化学干扰C电离干扰

填空题影响ICP-AES法分析特性的主要工作参数有3个,即()、()和()。

判断题用ICP-AES法测定时,背景扣除法是凭经验确定扣除背景的位置及方式。A对B错

填空题ICP-AES分析中,产生连续背景的因素有()、()、()和()4种。

判断题ICP-AES法分析中,如存在连续背景干扰,必须要扣除光谱背景,否则标准曲线不通过原点。A对B错

填空题ICP-AES法存在的主要干扰有()、()、()、()和()。

问答题ICP-AES法分析中灵敏度漂移应如何校正?

问答题试述ICP-AES测定时,采用标准曲线法定量分析的原理。