判断题用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A对B错

判断题
用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。
A

对

B

错

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用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。（）此题为判断题(对，错)。
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用单探头探伤时,对于与声束取向不良的缺陷,采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果好。()
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用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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与表面光滑的零件相比检验粗糙零件时一般应采用( )。A、较低频率的探头和较粘的耦合剂B、较高频率的探头和较粘的耦合剂C、较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D、较低频率的探头和粘度较小的耦合剂
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由于声束扩散原因引起的声衰减，可以克服的方法是A、降低帧频B、提高帧频C、变换探头频率D、声束聚焦E、降低探头频率
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克服声束远场产生声束扩散的现象，常采用的方法是A、降低波长B、调节时间增益补偿C、增大发射孔径、加用深部聚焦（发射）D、增加探头发射频率E、降低探头发射频率
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与表面光滑的工件相比，检验表面粗糙的工件时，一般应采用()A.较低频率的探头和较粘的耦合剂B.较高频率的探头和较粘的耦合剂C.较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D.较低频率的探头和粘度较小的耦合剂
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采用超声法对钢结构进行内部缺陷探伤时，如材料较厚时宜选用发射频率较高的探头。
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与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件探伤时通常需要使用（）A、频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B、频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C、频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D、频率较低的探头和粘度较低的耦合剂
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与表面光滑的零件相比，检验表面粗糙的零件时一般应采用（）。A、较低频率探头和较粘的耦合剂B、较低频率探头和粘度较小的耦合剂C、较高频率探头和较粘的耦合剂D、较高频率探头和粘度较小的耦合剂
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用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的频率（）A、越高越好B、越低越好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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用单探头发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率是（）。A、越高越好B、越低越好C、适当偏低的频率D、较平常为高的频率
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用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用不太高的频率。
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探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。
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用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。
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选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直
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用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
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用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高D、较寻常时取高值
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如果探测面粗糙，应该采用较高频率的探头探伤。
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当焊缝中的缺陷与声束成一定角度时，探测频率较高时，缺陷回波不易被探头接收。
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判断题探头晶片面积相同，高频率探头的声束扩散角要比低频率探头的声束扩散角大。A对B错
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单选题用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。A愈高愈好B愈低愈好C不太高D较寻常时取高值
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判断题用单探头探伤时，对于与声束取向不良的缺陷，采用较低频率的探头要比较高频率的探头效果。A对B错
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填空题用直探头探伤，当缺陷小于声束截面时，一般采用（）定量；当缺陷大于声束截面时，一般采用（）或（）定量。
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单选题与表面光滑的零件相比检验粗糙零件时一般应采用（）A较低频率的探头和较粘的耦合剂B较高频率的探头和较粘的耦合剂C较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D较低频率的探头和粘度较小的耦合剂
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单选题与表面光滑的零件相比，表面粗糙的零件探伤时通常需要使用（）A频率较低的探头和粘度较高的耦合剂B频率较高的探头和粘度较低的耦合剂C频率较高的探头和粘度较高的耦合剂D频率较低的探头和粘度较低的耦合剂
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单选题与表面光滑的工件相比，检验表面粗糙的工件时，一般应采用（）A较低频率的探头和较粘的耦合剂B较高频率的探头和较粘的耦合剂C较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D较低频率的探头和粘度较小的耦合剂
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单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率（）。A越高越好B越低越好C不太高的频率D较寻常为高的频率
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