用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用不太高的频率。
用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用不太高的频率。
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用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的为大C、面积大的，当量反而要比面积小的要小D、它们的当量相等
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、相等
单选题用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A面积大的，当量也一定大B面积大的，当量不一定比面积小的为大C面积大的，当量反而要比面积小的要小D它们的当量相等
单选题为了得到最强的缺陷反射，探头的波束应该（）A声束与缺陷平行B声束与缺陷垂直C声波从缺陷边缘穿过D以上都可以