用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高D、较寻常时取高值
用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率（）。
- A、愈高愈好
- B、愈低愈好
- C、不太高
- D、较寻常时取高值
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用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷(二缺陷的取向相同且无工件界面的影响)，它们的当量()。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、它们的当量相等
用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的为大C、面积大的，当量反而要比面积小的要小D、它们的当量相等
用单探头法探测二个表面平整、但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同且无工件界面的影响），它们的当量（）。A、面积大的，当量也一定大B、面积大的，当量不一定比面积小的大C、面积大的，当量反而比面积小的小D、相等
单选题用单探头法探测二个表面平整，但与入射声束取向不良的缺陷（二缺陷的取向相同切不工件界面的影响），它们的当量（）A面积大的，当量也一定大B面积大的，当量不一定比面积小的为大C面积大的，当量反而要比面积小的要小D它们的当量相等
单选题用单探头法为要发现与声束取向不良的缺陷，应该采用的频率（）。A越高越好B越低越好C不太高的频率D较寻常为高的频率