产生光纤接头损耗的光纤本征因素有两光纤芯径失配、同心度不良、数值孔径失配等,造成漏光。() 此题为判断题(对，错)。
因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是( )。A.模场直径B.数值孔径C.光纤线径D.纤芯相对折射率差
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有:两端光纤轴向偏移,纵向间隙,端面分离,轴向倾斜,光纤端面不整齐和污染。() 此题为判断题(对，错)。
光纤连接通常有两种方式，即永久性连接和可插上拆下的活动连接。影响光纤接续损耗的原因主要有（ ）。A.纤芯包层界面不光滑平整B.光纤的结构参数失配C.光纤的相对位置D.光纤的端面状态
影响光纤熔接损耗的因素较多，以下因素中影响最大的是（64）。A. 光纤模场直径不一致B. 两根光纤芯径失配C. 纤芯截面不圆D. 纤芯与包层同心度不佳
影响光纤熔接损耗的因素较多，影响最大的是（）。A、光纤模场直径不一致B、两根光纤芯径失配C、纤芯截面不圆D、纤芯与包层同心度不佳
单模光纤接续产生损耗的外部因素有轴心错位、轴心倾斜、纤芯变形等。
光纤连接通常有两种方式，即永久性连接和可插上拆下的活动连接。影响光纤接续损耗的原因主要有（）A、纤芯包层界面不光滑平整B、光纤的结构参数失配C、光纤的相对位置D、光纤的端面状态
产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两端光纤轴向偏移，纵向间隙，端面分离，轴向倾斜，光纤端面不整齐和污染。
用OTDR测光纤时，纤芯折射率影响（）测试结果A、光纤损耗值B、接头损耗C、光缆损耗D、光纤长度
光纤的损耗包括本征损耗和非本征损耗，其中对本征损耗影响较大的是（）。A、本征吸收和光纤微弯B、本征吸收和瑞利散射C、原子缺陷吸收和瑞利散射D、光纤弯曲和波导散射
CCITT规定，单模光纤的芯不圆度小于（）。单模光纤的包层不圆度小于（）。单模光纤的芯/包层同心度误差小于（）微米。
CCITT规定，多模光纤的芯不圆度小于（）。多模光纤的包层不圆度小于（）。多模光纤的芯/包层同心度误差小于（）。
光纤（）是指纤芯中心与包层中心之间距离除以芯径。A、芯直径B、同心度C、外径D、不圆度
光纤的几何特性中对接续损耗的影响最大的是（）。A、纤芯直径B、包层直径C、纤芯/包层同心度D、光纤翘曲度
因本征因素影响多模光纤连接损耗最大的是（）。A、纤芯相对折射率差B、光纤芯径C、包层外径D、数值孔径
因本征因素单模影响光纤连接损耗最大的是（）。A、模场直径B、数值孔径C、光纤线径D、纤芯相对折射率差
单模光纤连接损耗的外界因素主要有（）。A、芯包层同心度不圆度B、轴心错位C、轴向倾斜D、纤芯变形
单模光纤本征因素对接头损耗影响最大的是（）。A、模场直径B、外径不圆度C、光纤间隙D、粒子散射
光缆新编盘号可随意编排，以减少光纤由于模场直径失配所产生的接头本征损耗。
判断题光缆新编盘号可随意编排，以减少光纤由于模场直径失配所产生的接头本征损耗。A对B错
判断题产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两光纤芯径失配，同心度不良，数值孔径失配等，造成漏光。A对B错
判断题产生光纤接头损耗的光纤本征因素有：两端光纤轴向偏移，纵向间隙，端面分离，轴向倾斜，光纤端面不整齐和污染。A对B错
单选题光纤连接损耗的（）是指光纤自身因素，它是由光纤的变化引起的，当两根不同类型的光纤连接组一起的时候，会导致本征损耗。A本征因素B非本征因素C现场施工D接续技术
单选题影响光纤熔接损耗的因素较多，影响最大的是（）。A光纤模场直径不一致B两根光纤芯径失配C纤芯截面不圆D纤芯与包层同心度不佳