要求不损坏试样,对某一微区进行光谱分析,则用()A、火焰B、等离子体C、低压交流电弧D、高压火花E、激光显微光源

要求不损坏试样,对某一微区进行光谱分析,则用()

  • A、火焰
  • B、等离子体
  • C、低压交流电弧
  • D、高压火花
  • E、激光显微光源

相关考题:

根据试验要求,冲击试验试样可以开在焊缝、熔合区或热影响区。() 此题为判断题(对,错)。

发射光谱分析中光源的作用是()。 A、发光照明试样B、蒸发和激发试样C、给试样导电D、分光

管子对接焊缝进行探伤,对试样和有探头何要求?

ARL直读光谱分析试样组成结构状态有哪些影响?

进行红外光谱分析时,为什么要求试样为单一组分且为纯样品?为什么试样不能含有游离水分?

ICP焰炬的一具有适宜的激发温度,能使试样在此既较充分的原子化、激发、发射离子线和原子线,背景发射光谱强度又较低,一般情况下多用此区进行光谱分析。()A、预热区B、初始辐射区C、测光区(内焰区)

随机抽取20支试样,检查切口的()或歪斜则用钢尺量其高低值。

现场设备、工业管道焊接工程中当设计文件和相关标准要求进行冲击试验时,对两侧母材不同的焊缝,热影响区怎样采集试样?

不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是()A、看谱分析B、手持X射线荧光光谱分析C、手持激光诱导击穿光谱分析D、光电直读光谱分析

烷烃在近紫外光区不产生吸收峰,因此常用作紫外吸收光谱分析的溶剂。

制备红外光谱分析固体试样时,不可用()压片。A、萘B、KBrC、KID、KCl

火花光谱分析试样表面不得有()。A、砂眼、裂纹B、气孔C、夹杂D、毛刺和污染

X射线荧光光谱分析的试样,可以是固态,也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。

在原子吸收光谱分析中,所测得的吸光度的大小与()成正比。A、试样中某一元素的含量B、试样中某一元素含量的对数C、试样中某一元素含量的二次方D、光源所发射谱线的强度

发射光谱分析用的标准试样必须具备()、()、()等条件。

光谱分析首先将试样(),然后再分光进行定性或定量分析。A、蒸发、激发B、雾化、离子化C、分子化D、雾化

试样的组织结构对光电直读光谱分析有什么影响?怎样消除?

有关红外光谱试样处理和制样方法的要求错误的是()A、利用红外光谱进行结构分析时,为了便于与纯物质的标准光谱进行对照,试样必须是单一组分的纯物质且纯度要大于99%。B、混合试样测定前要经过分馏、萃取、重结晶等方法进行分离提纯或采用联用方法进行分析,否则各组分光谱相互重叠,谱图很难解析。C、由于水本身有红外吸收,且严重干扰试样光谱,此外,水还会浸蚀KBr盐片,所以试样中通常不能含有游离水。D、固体试样可以采用KBr压片法、石蜡糊法和薄膜法测定红外光谱,液体试样常用液体池和液膜法,气体试样则需要在专用的气体池内进行测定。E、试样的浓度和测试厚度对红外光谱分析的影响很大,尤其是对定量分析的影响更大,通常要求光谱中大多数吸收峰的透过率在10%-80%。

光电直读光谱分析中试样的激发点在试样打磨面的()。A、任意位置B、半径的1/2处C、圆心

光谱分析对标样的要求有哪些?

ICP焰炬的()具有适宜的激发温度,能使试样在此既较充分的原子化、激发、发射离子线和原子线,背景发射光谱强度又较低,一般情况下多用此区进行光谱分析。A、预热区B、初始辐射区C、测光区(内焰区)

在红外光谱分析中,为什么用KBr制作为试样池?

单选题要求不损坏试样,对某一微区进行光谱分析,则用()A火焰B等离子体C低压交流电弧D高压火花E激光显微光源

填空题发射光谱分析用的标准试样必须具备()、()、()等条件。

问答题进行红外光谱分析时,为什么要求试样为单一组分且为纯样品?为什么试样不能含有游离水分?

单选题不需要标准试块校验、不受现场限制、不需要切割试样且试样表面不损坏的光谱分析方法是()A看谱分析B手持X射线荧光光谱分析C手持激光诱导击穿光谱分析D光电直读光谱分析

单选题ICP焰炬的一具有适宜的激发温度,能使试样在此既较充分的原子化、激发、发射离子线和原子线,背景发射光谱强度又较低,一般情况下多用此区进行光谱分析。()A预热区B初始辐射区C测光区(内焰区)