当采用射线探伤方法时,应优先采用X射线源进行透照检测。

当采用射线探伤方法时,应优先采用X射线源进行透照检测。


相关考题:

当超声波探伤不能对缺陷作出判断时,应采用()A、X射线探伤B、磁粉探伤C、渗透探伤D、着色探伤

采用双壁双影透照管径小于90mm的环焊缝时,像质计应放置在射线源一侧焊缝的()表面

DL/T821-2002规定,采用双壁单投影法透照时,射线源至管子外表面的距离,当小于或等于15mm时,至少分()段透照,即每段对应的中心角应小于或等于();当大于15mm时,至少分()段透照,即每段对应的中心角小于或等于()。

DL/T821一2002规定,对较大直径管道对接接头射线透照检验时,为提高横向裂纹检出率,应选用周向X射线机或γ射线源,采用中心全周透照法。若采用其他透照方法,则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2,纵缝K值不大于1.03。()

不论采用何种透照布置,为防止漏检,搭接标记均应放在射线源侧。

对于焊缝表面缺陷的检测,应优先采用()。A、渗透探伤B、磁粉探伤C、超声波探伤D、X射线探伤

当对铝合金材料进行无损探伤时,应优先选用().A、磁粉检测法。B、涡流检测法。C、X射线检测法。D、渗透检测法。

隔离开关绝缘子探伤检测时,采用()进行探伤。A、X射线B、超声波C、r射线D、荧光光谱

当检测厚度小T50mm的焊缝时,应采用()。A、X射线探伤B、γ射线探伤C、超声波探伤D、磁粉探伤

射线探伤的射线源有X射线和γ射线。

被透视焊件的厚度()mm时,应采用X射线探伤;()mm时,应采用γ射线探伤。

当超声波不能对缺陷做出判断时,应采用()方法检测焊缝内部质量。A、渗透探伤B、磁粉探伤C、射线探伤D、涡流探伤

采用γ射线源透照时,总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的()。

采用г射线源进行射线照相时,若要减少射线强度可以:()。A、减少焦距B、增大焦距C、增加暴光时间D、采用快速X光胶片

当采用焦距F大于曲率半径R的偏心内透照法检验环焊缝时,搭接标记应放在()。A、射线源侧B、胶片侧C、两侧均可D、以上都对

无损检测方法中,检查焊缝内部缺陷应采用()。A、磁粉探伤B、射线探伤C、萤光探伤D、着色探伤

当检测厚度小于50mm的焊缝时,应采用()。A、X射线探伤B、γ射线探伤C、超声波探伤D、磁粉探伤

当采用渗透探伤方法时,宜优先选用具有较高检测灵敏度的荧光渗透检测。

当对铝含金材料进行无损探伤时应优先选用哪种探测方法()。A、X射线检测法B、涡流检测法C、图形尺寸与实际尺寸的比D、渗透检测法

当对铝合金材料进行无损探伤时,应优先选用哪种检测方法?()A、磁粉检测法。B、涡流检测法。C、X射线检测法。D、渗透检测法。

单选题当采用焦距F大于曲率半径T的偏心内透照法检验环焊缝时,搭接标记应放在()。A射线源测B胶片侧C两侧均可D以上都对

判断题当采用射线探伤方法时,应优先采用X射线源进行透照检测。A对B错

单选题对于焊缝表面缺陷的检测,应优先采用()。AX射线探伤B超声波探伤C磁粉探伤D渗透探伤

单选题对于焊缝表面缺陷的检测,应优先采用()。A渗透探伤B磁粉探伤C超声波探伤DX射线探伤

判断题DL/T821一2002规定,对较大直径管道对接接头射线透照检验时,为提高横向裂纹检出率,应选用周向X射线机或γ射线源,采用中心全周透照法。若采用其他透照方法,则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2,纵缝K值不大于1.03。()A对B错

填空题采用γ射线源透照时,总的曝光时间应不少于输送源往返所需时间的()。

单选题当超声波不能对缺陷做出判断时,应采用()方法检测焊缝内部质量。A渗透探伤B磁粉探伤C射线探伤D涡流探伤