CSK一1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。()
CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同A、长横孔B、平底孔C、球孔D、以上B和C
CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 A、 1.2B、 2C、 1.86D、 以上都不对
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中，哪种方法精度最高：（）、A、半圆试法和横孔法B、双孔法C、直角边法D、不一定，须视具体情况而定
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
斜探头探伤时试块上最常用的反射体是：（）。A、平底孔B、长横孔C、大平底D、以上都可以
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
70度探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定
CSK-1A试块主要用于斜探头距离一幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
CSK—1A试块主要用于斜探头距离—幅度特性的测量和斜探头K值的测试。
CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头。A、＞1.5B、＞2C、＞2.5D、＞3
判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA、主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的K值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A对B错
判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A对B错
判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。A对B错
判断题斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。A对B错
单选题斜探头前沿长度和K值测定的几种发放中，哪种方法精度最高：（）、A半圆试法和横孔法B双孔法C直角边法D不一定，须视具体情况而定
单选题70°探头折射角测定应（）。A在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D在半圆试块上测定
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨力D以上全是
单选题CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头。A＞1.5B＞2C＞2.5D＞3
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A 直探头的的远场分辨力B 斜探头的K值C 斜探头的入射点D 斜探头的声束偏斜角
单选题利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。A 1.2B 2C 1.86D 以上都不对