利用WGT-3试块上∮3×80横通孔可测定0°探头( )。A、分辨力B、穿透力C、声轴偏斜角D、盲区
根据NB/T47013.3-2015标准规定，以下哪个试块为标准试块（）A、CSK-ⅠA试块B、CSK-ⅡA试块C、CSK-ⅢA试块D、CSK-ⅣA试块
CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。
利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。 A、 1.2B、 2C、 1.86D、 以上都不对
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是
超声检测铝合金焊缝时，下列叙述正确的是：（）A、扫查灵敏度不低于Φ2-12dBB、当板厚＜40mm，采用单面双侧，利用直射波和反射波检测C、斜探头入射点可在CSK-ⅠA试块上测试D、扫描线比例可用CSK-ⅠA试块测试
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
0°探头分辨率的测定应使用（）。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块
用CSK－1A试块测定探头和仪器分辨力，现测得台孔φ50、φ44反射波等高时，波峰高H1＝80%，波谷高H2＝50％，求分辨力为多少？
判断题CSK-ⅠA、CSK-ⅢA、 CSK-Ⅳ试块主要用于制作横波距离-波幅曲线、校准斜探头的 K 值、横波扫描速度和检测灵敏度等。A对B错
问答题用CSK－1A试块测定探头和仪器分辨力，现测得台孔φ50、φ44反射波等高时，波峰高H1＝80%，波谷高H2＝50％，求分辨力为多少？
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A对B错
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A对B错
填空题WGT—1试块，R40mm的圆弧面，可用于测定斜探头的入射点和（）。
填空题CSK-IB试块上，Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定（）的（）
判断题斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。A对B错
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨力D以上全是
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A 直探头的的远场分辨力B 斜探头的K值C 斜探头的入射点D 斜探头的声束偏斜角
单选题CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A入射点B折射角C分辨率DK值
单选题利用CSK－ⅠA标准试块，在斜探头K值测量中，已知斜探头前沿为12mm ， 将斜探头前沿对准ф50mm孔在显示屏呈现回波最高幅度时，测得斜探头前沿至CSK－ⅠA标准试块端部距离为83mm，则斜探头K值为（）。A 1.2B 2C 1.86D 以上都不对