单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨力D以上全是

单选题
CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()
A

测定斜探头K值

B

测定直探头盲区范围

C

测定斜探头分辨力

D

以上全是


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

下列属于国际标准试块的是() A、CSK—IBB、STB—GC、RBD、IIW

下列属于日本标准试块的是() A、CSK—IBB、STB—GC、RBD、IIW

CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。A、入射点B、折射角C、分辨率D、K值

CSK-IB试块上,Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定()的()

CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。

与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。

CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔,其目的是()A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨力D、以上全是

利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。

对于Φ83x14mm规格的钢管对接环焊缝探伤时,采用的对比试块最好是()A、IIW2试块B、IIW1试块C、实际工件试块D、任何平底孔试块都可以

IIW试块的主要用途是测试探伤仪和探头的性能。

CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔,其目的是()A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部

如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”?

《钢轨探伤管理规则》规定,探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。

70°探头折射角测定应()。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定

0°探头分辨率的测定应使用()。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块

国际焊接学会的IIW试块主要用来测定仪器探头的那些性能?

IIW试块测定斜探头的入射点,在探测任何声速的试件时其位置不变。

判断题与IIW试块相比CSK-IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A对B错

判断题与IIW试块相比,CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A对B错

问答题如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”?

判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶,可用来测定斜探头的分辨力。A对B错

填空题CSK-IB试块上,Φ50和Φ44mm两孔的台阶可用来测定()的()

判断题利用IIW试块上Φ50mm孔与两侧面的距离,仅能测定直探头盲区的大致范围。A对B错

问答题我国的CSK-IA试块与IIW试块有何不同?德国和日本对IIW试块作了哪些修改?

判断题利用IIW试块上的φ50孔两侧面的距离,只能测定直探头盲区的大致范围。A对B错

判断题《钢轨探伤管理规则》规定,探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。A对B错

单选题CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔,主要用来测试斜探头的()。A入射点B折射角C分辨率DK值