测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。

测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。


相关考题:

系统设计的任务是:在系统分析提出的()的基础上,科学合理地进行()的设计。

下列对测量系统陈述中,选择所有正确的内容()A、在测量阶段检讨是否需要进行测量系统分析后,没有必要时不需要进行分析B、破坏性检验无法进行测量系统分析C、测量值的‘真值’是无法知道的,我们定义的真值是理论真值D、线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器准确度

某工程师在对某检测仪器进行测量系统分析后发现,RR%=50%。导致测量系统误差较大的原因是测量者和随机抽取的零件之间存在非常明显的交互效应。基于这一点,你认为他应该如何解决这一问题()?A、重新随机抽取零件,再次进行测量系统分析,直到没有交互作用为止B、分析不同测量者的测量方法,找出原因,解决问题C、重新选择测量者,再次进行测量系统分析,直到没有交互作用为止D、以上说法都不对

PVC板材的特性之一为抗冲击强度,使用专用的冲击强度测试设备进行测量,对该测量系统进行测量系统分析,以下说法正确的是()A、使用交叉型测量系统分析B、使用嵌套型测量系统分析C、使用属性一致性判断分析方法D、以上说法都不正确

测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下,测量系统中的变差只能由()造成,而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性,并且可以通过()法最佳地进行评价。

测量分析可将各种来源的变差量化,如来自()。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。A、测量人员的变差B、测量结果的变差C、测量仪器自身的变差D、测量过程的变差

下列对测量系统分析的陈述中正确地是()A、破坏性检测无法进行测量系统分析B、每个测量系统必须使用数字显示的计量仪器C、测量系统误差影响被测量对象的真值D、随机测量是测量系统分析的基本原则

某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前,计量部门的人说,该设备定期进行校准,不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系,正确的是()A、定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门进行测量系统分析B、校准可以消除或减少测量系统的偏倚(bias)C、定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D、定期进行GRR研究不能代替定期校准

过程能力是通过由目前()的变差来计算A、偶然原因B、特殊原因C、普通原因D、以上都不是

过程的直方图显示过程成正态分布,且过程变差在公差内,则下列正确的是()A、过程一定处于统计受控状态B、过程一定没有特殊原因C、过程可能有特殊原因D、以上都对

测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响,主要强调()和()的变差对测量值的影响。

稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下,是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。

以下哪种原因可能导致测量结果的变差() 。A、零件的变差B、测量人内部变差C、测量仪器的变差D、测量环境导致的变差

在测量系统分析中,评价一个人使用一件测量设备,对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差,称为()。A、重复性B、偏倚C、稳定性D、线性E、再现性

对控制计划中提及的测量系统均需进行测量系统分析而重点应分析特殊特性。

测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

系统设计的任务是:在系统分析提出的逻辑模型的基础上,科学合理地进行()的设计。

填空题测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响,主要强调()和()的变差对测量值的影响。

单选题过程的直方图显示过程成正态分布,且过程变差在公差内,则下列正确的是()A过程一定处于统计受控状态B过程一定没有特殊原因C过程可能有特殊原因D以上都对

判断题测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。A对B错

多选题某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前,计量部门的人说,该设备定期进行校准,不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系,正确的是()A定期校准可以保证测量系统的有效性,因此不必专门进行测量系统分析B校准可以消除或减少测量系统的偏倚(bias)C定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D定期进行GRR研究不能代替定期校准

判断题对控制计划中提及的测量系统均需进行测量系统分析而重点应分析特殊特性。A对B错

单选题下列对测量系统分析的陈述中正确地是()A破坏性检测无法进行测量系统分析B每个测量系统必须使用数字显示的计量仪器C测量系统误差影响被测量对象的真值D随机测量是测量系统分析的基本原则

判断题稳定性是在有特殊原因变差的统计控制状态下,是测量系统对同一基准值在不同时间的偏倚的总变差。A对B错

多选题下面对测量系统分析的陈述中,选择所有正确的项目()A在测量阶段确认是否需要进行测量系统分析后,没有必要时不需要进行测量系统分析B破坏性检验无法进行测量系统分析C测量值的‘真值’是无法知道的,我们定义的真值是理论真值D线性是检验随着测量范围的大小变化的测量仪器正确度

判断题测量系统分析是在特殊原因造成的过程变差的基础上进行分析。A对B错

填空题测量系统应处于统计受控状态意味着在重复测量条件下,测量系统中的变差只能由()造成,而不能由特殊原因造成。这种情况可称之为具有统计的稳定性,并且可以通过()法最佳地进行评价。