CR系统X射线照射量与发射的荧光强度呈()的直线相关。

CR系统X射线照射量与发射的荧光强度呈()的直线相关。


相关考题:

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。 A、增大B、减小C、不变

X线主防护是指( ) A.对散射线的防护B.对漏射线照射的防护C.对原发射线照射的防护D.对以上各种射线照射的防护

关于散射线的描述,下述哪项不正确()A.无感光和电离作用B.散射线具有荧光作用C.散射线发生的量与穿透肢体厚度成正比D.散射线是X线穿透人体后发生的续发射线E.散射线的波长比原发射线长

关于照射量的描述,错误的是A.照射量是X射线使用最新的一个量B.照射量只用于X或γ射线在空气中辐射场的量度C.是根据X或γ射线在空气中的电离本领而确定的量D.照射量有统一的单位E.照射量用符号"X"表示

关于照射量的描述,错误的是()A、照射量是X射线使用最新的一个量B、照射量只用于X或γ射线在空气中辐射场的量度C、是根据X或γ射线在空气中的电离本领而确定的量D、照射量有统一的单位E、照射量用符号"X"表示

关于散射线的描述,下述哪项不正确()。A、散射线是X线穿透人体后发生的续发射线B、散射线的波长比原发射线长C、散射线发生的量与穿透肢体厚度成正比D、散射线具有荧光作用E、无感光和电离作用

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

射线对人体的照射可能会产生有害效应,有害效应的发生与下列哪些因素直接相关。()A、照射量B、照射量率C、照射部位与面积D、照射方式E、放射敏感性F、射线类型

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与曝光时间无关。

以发射波长对荧光强度所作的图称为()A、激发光谱B、照射光谱C、紫外发射光谱D、吸收光谱E、荧光光谱(发射光谱)

关于X射线的量与质,下列说法正确的是().A、X射线的量决定其硬度B、可用X射线管的管电流与照射时间的乘积来间接反映X射线的量C、X射线通过的附加滤过越厚,X射线的有效能量降低,线质变软D、X射线管管电压越高,其产生的X射线越硬

荧光素不变的情况下,与荧光强度相关的参数是()。A、荧光效应B、荧光淬灭C、激发波长D、发射波长E、荧光寿命

原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

高能X射线照射到物质上以后,一般会出现以下哪几种X射线()A、荧光X射线B、散射X射线C、衍射X射线D、透过X射线

X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

试样受X射线照射后,其中各元素原子的()被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线,或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

底片的黑度取决于射线强度与曝光时间的乘积,即曝光量,但当采用荧光或金属荧光增感屏时,射线强度与曝光时间不成反比关系。

X射线管是发射X射线的射线源,在一定的管电压下,X射线管的管电流大小取决于阴极发射的电子量的多少,而电流强度的大小则取决于()。A、整流管电流的大小B、X射线管电流的大小C、X射线工作时间的长短D、灯丝加热温度

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与()无关。

多选题射线对人体的照射可能会产生有害效应,有害效应的发生与下列哪些因素直接相关。()A照射量B照射量率C照射部位与面积D照射方式E放射敏感性F射线类型

单选题原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法

单选题“散射线含有率”的正确定义是(  )。A作用在胶片上的X线量B散射线在作用于胶片上的全部射线量中的比率C作用在胶片上的散射线量D原发射线与散射线之比E原发射线中含有散射线的量

填空题CR系统X射线照射量与发射的荧光强度呈()的直线相关。

判断题原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A对B错