X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。 A、增大B、减小C、不变
X射线透过滤线板后（）A、强度增加，谱线范围变窄；B、能量增加，谱线范围变宽；C、射线变硬，谱线范围变宽；D、射线变硬，谱线范围变窄；E、射线变软，谱线范围变窄；
在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A、全谱段波长B、0.001～10nmC、0.01～120nmD、0.1～800nm
在能量色散X射线荧光光谱仪中滤光片其作用是改善激发源的谱线能谱成分，同时在进行多元素分析时，滤光片可用来抑制这些高含量组分的强X射线荧光。
波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对
应用X射线荧光光谱分析轻元素时，由于轻元素（）所以要选用粗准直器。A、潜线固有灵敏度高B、潜线固有灵敏度低C、潜线宽度窄D、潜线宽度宽
X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关。A、X光管电流B、X光管电压C、X光管靶材D、连续谱
在X射线荧光分析中，选择准直器时应在不发生（）重叠前提下，分辨率和（）之间要折中考虑，不要太强调分辨率。A、谱线B、峰C、灵敏度D、强度
X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与（）之间。A、X射线管B、晶体C、探测器
波长色散X射线荧光光谱仪的原级谱线滤光片位于X射线管与（）之间，是一种能（）吸收某波长或波带的金属薄膜。A、样品B、晶体C、选择性地D、反射
X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长。
在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
特征X射线光谱谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。
波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征
单选题X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A全谱段波长B0.001～10nmC0.01～120nmD0.1～800nm