透照某试件时，放在焦点侧试件表面的象质计最小可见线径为0.25mm，以此作为底片1，此时散射比n1=1.4，然后用铅光阑和屏蔽板时散射比n2=0.5，再摄一张同黑度的底片，以此作为底片2，假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变。要摄得与底片1同黑度的底片2，曝光时间应为底片1的曝光时间的几倍？
透照某试件时，放在焦点侧试件表面的象质计最小可见线径为0.25mm，以此作为底片1，此时散射比n1=1.4，然后用铅光阑和屏蔽板时散射比n2=0.5，再摄一张同黑度的底片，以此作为底片2，假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变。要摄得与底片1同黑度的底片2，曝光时间应为底片1的曝光时间的几倍？
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透照板厚20mm，加强高3mm的钢焊缝时，底片上母材区黑度为2.5，焊道中心黑度为1.5。如将加强高磨平，仍按同一条件透照，则此时被检区中心与象质计某一直径的金属丝相应的底片对比度是加强高磨平前的几倍？（设线质不因穿透厚度而变化，且试件对Χ射线的半值层为2mm，黑度D与梯度G在黑度1.2～3.5范围内成正比，焦点尺寸的影响可忽略不计。所用胶片特性曲线提供数据：lgE（D25）=2.02，lgE（D15）=1.76）
下述有关像质计特质的叙述中，不正确的是（）A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像，而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较
假设X射线机、管电压、管电流、透照布置、X光胶片、增感屏、显影条件及试件均不变。将像质计放在厚试件上用t1分的曝光时间透照时，直径d1的金属丝在底片上的影象对比度为△D1，然后用铅光阑和屏蔽板减少散射线作第二次透照，为得到同黑度的底片，需要t2分的曝光时间，此时若同一直径金属丝的影象对比度为△D2，试证下列关系：△D2/△D1=t2/t1
假设X射线机、管电压、管电流、透照布置、X光胶片、增感屏、显影条件及试件均不变。透照厚试件时，原可识别的最小气孔直径为0.7mm，今用铅光阑和屏蔽板减少散射线透照时，为得到同黑度的底片需要2倍的曝光时间，若此时缺陷处于与胶片平行的同一平面上，则可识别的最小气孔直径为多少？设气孔与最小可见对比度△Dmin的关系在d=0.2～1.0mm范围内成反比，又焦点尺寸的影响可忽略不计。
透照厚试件时，底片可识别的象质计最小线径为0.32mm，此时散射比n为2，然后利用铅阑和屏蔽板，使散射比减为0.5。为拍照黑度相同的底片，则曝光时间应为原来的几倍？又底片上同一线径的影象对比度为原来的几倍？（假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变）
有关像质计使用的说法正确的是（）A、摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B、采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C、当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D、以上都对
ASME孔洞型透度计，检测等级如为2-4T时，则（）A、2代表可见之孔洞，4代表透度计厚度，T代表试件厚度B、2代表透度计厚度，4代表可见之孔洞，T代表试件厚度C、2代表透度计厚度为试件厚度的2%，4代表直径为透度计厚度4倍的孔洞必须看到，T代表透度计厚度D、2代表直径为透度计两倍之孔洞必须看到，4代表透度计厚度为试件厚度的4%，T代表试件厚度
平板孔型象质计的象质等级2-IT是指（）A、象质计厚度为透照厚度2%，孔径为象质计厚度1倍，等效灵敏度为1.4%B、象质计厚度为透照厚度1%，孔径为象质计厚度2倍，等效灵敏度为1.4%C、象质计厚度为透照厚度2%，孔径为象质计厚度1倍，等效灵敏度为1%D、以上都不对
问答题假设X射线机、管电压、管电流、透照布置、X光胶片、增感屏、显影条件及试件均不变。透照厚试件时，原可识别的最小气孔直径为0.7mm，今用铅光阑和屏蔽板减少散射线透照时，为得到同黑度的底片需要2倍的曝光时间，若此时缺陷处于与胶片平行的同一平面上，则可识别的最小气孔直径为多少？设气孔与最小可见对比度△Dmin的关系在d=0.2～1.0mm范围内成反比，又焦点尺寸的影响可忽略不计。
问答题透照厚试件时，放在试件焦点侧表面的金属丝象质计可识别的最小线径为0.5mm，此时散射比为3.5，然后利用铅光阑和屏蔽板使散射比为1.5，再摄一张黑度相同的底片，此时可识别的象质计最小线径为多少？（已知直径d与最小可见度△Dmin在d=0.1～0.5mm范围内有下式之关系：△Dmin=C•d-2/3，C为常数，又假定焦点尺寸影响可忽略，Χ射线机、管电压、管电流、焦距、胶片及增感屏均不变。）
问答题透照某钢焊缝时，在底片上可发现直径为0.4mm的象质计金属丝，为能发现直径为0.2mm的金属丝，底片对比度应为原来的几倍（设直径为0.4mm和0.2mm的金属丝最小可见对比度△Dmin分别为0.02和0.03，又黑度和透照布置等摄片条件均不变，焦点尺寸影响忽略不计）
单选题ASME孔洞型透度计，检测等级如为2-4T时，则（）A2代表可见之孔洞，4代表透度计厚度，T代表试件厚度B2代表透度计厚度，4代表可见之孔洞，T代表试件厚度C2代表透度计厚度为试件厚度的2%，4代表直径为透度计厚度4倍的孔洞必须看到，T代表透度计厚度D2代表直径为透度计两倍之孔洞必须看到，4代表透度计厚度为试件厚度的4%，T代表试件厚度
问答题透照某试件时，放在焦点侧试件表面的象质计最小可见线径为0.25mm，以此作为底片1，此时散射比n1=1.4，然后用铅光阑和屏蔽板时散射比n2=0.5，再摄一张同黑度的底片，以此作为底片2，假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变。底片2上可以辨认的象质计最小线径应为多少？已知线径d与最小可见对比度△Dmin的关系在d=0.1～0.4mm范围内，有△Dmin=c•d-2/3，c为常数，又焦点尺寸的影响忽略不计。
问答题透照某试件时，放在焦点侧试件表面的象质计最小可见线径为0.25mm，以此作为底片1，此时散射比n1=1.4，然后用铅光阑和屏蔽板时散射比n2=0.5，再摄一张同黑度的底片，以此作为底片2，假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变。底片2上同一直径的金属丝影象对比度是底片1上的几倍？
单选题平板孔型象质计的象质等级2-IT是指：（）A象质计厚度为透照厚度2%，孔径为象质计厚度1倍，等效灵敏度为1.4%B象质计厚度为透照厚度1%，孔径为象质计厚度2倍，等效灵敏度为1.4%C象质计厚度为透照厚度2%，孔径为象质计厚度1倍，等效灵敏度为1%D以上都不对
单选题以下关于象质计选用的叙述，哪一条不符合ASME规范的有关规定（）A即使是双壁透照，也必须按单壁焊缝厚度选择象质计；B对带垫板焊缝，垫板厚度不计入透照厚度；C对小径管双壁双影透照，可选择普通丝型象质计，也可以选择专用的等径丝型象质计；D以上都是。
问答题透照厚试件时，底片可识别的象质计最小线径为0.32mm，此时散射比n为2，然后利用铅阑和屏蔽板，使散射比减为0.5。为拍照黑度相同的底片，则曝光时间应为原来的几倍？又底片上同一线径的影象对比度为原来的几倍？（假定X射线机、管电压、管电流、焦距、胶片、增感屏均不变）
单选题有关像质计使用的说法正确的是（）A摆放像质计时，摆放位置一般是在射线透照区内灵敏度较低部位B采用单壁透照法时，像质计如不能放在近射源侧的表面则要做对比试验C当像质计摆放在胶片侧时应加放“F”标记D以上都对