变压器绕组的tanδ值与历年的数值比较不应有显著变化()A、一般不大于10%B、一般不大于20%C、一般不大于30%D、一般不大于50%

变压器绕组的tanδ值与历年的数值比较不应有显著变化()

  • A、一般不大于10%
  • B、一般不大于20%
  • C、一般不大于30%
  • D、一般不大于50%

相关考题:

CVT电容分压器电容量和介质损耗角tanδ的测量结果:电容量与出厂值比较其变化量超过-5%或10%时要引起注意,tanδ不应大于0.5%。此题为判断题(对,错)。

变压器测试绕组绝缘电阻与前一次同温度比较应无明显变化( )

测量变压器绕组连同套管一起的直流电阻,与同温下产品出厂实测数值比较,相应变化()。A.不应大于2%B.不应大于3%C.不应大于5%D.不应大于6%

铁心接地电流检测结果符合要求的是()。(A)1000kV变压器:小于等于300mA(注意值) (B)其他变压器:小于等于100mA(注意值) (C)与历史数值比较无较大变化 (D)1000kV变压器:小于等于100mA(注意值)

铁心接地电流检测结果应符合以下要求()。(A)1000kV变压器:≤300mA(注意值) (B)其他变压器:≤100mA(注意值) (C)与历史数值比较无较大变化 (D)与历史数值变化范围在10%以内

铁心接地电流检测结果应符合以下要求()。1000kV变压器:≤300mA(注意值)$;$其他变压器:≤100mA(注意值)$;$与历史数值比较无较大变化$;$与历史数值变化范围在10%以内

对于分裂变压器,通常制造厂提供的半穿越电抗是指()。A.高压绕组与总的低压绕组间的穿越电抗,并以分裂变压器二次绕组容量为基准的数值;B.高压绕组与总的低压绕组间的穿越电抗,并以分裂变压器一次绕组容量为基准的数值;C.高压绕组与一个低压绕组间的穿越电抗,并以分裂变压器二次绕组容量为基准的数值;D.髙压绕组与一个低压绕组间的穿越电抗,并以分裂变压器一次绕组容量为基准的数值。

测量变压器绕组连同套管的介质损耗角正切值tanδ,测试时记录好试验时的环境温度,换算至出厂相同温度比较时,其值不应大于产品出厂值的()倍。A、1.2B、1.3C、1.4D、1.5

CVT电容分压器电容量和介质损耗角tanδ的测量结果:电容量与出厂值比较其变化量超过-5%或10%时要引起注意,tanδ不应大于0.5%。

变压器交接试验时,被测绕组的tanδ值不宜大于产品出厂试验值的()%。A、110B、120C、130D、140

500kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为()合格。A、0.6%B、0.1%C、1.5%D、0.8%

变压器套管的电容值,测量结果同出厂值或历史数据比较不应有显著变化,一般而言,变化量不应大于()。A、1%B、3%C、5%D、10%

500kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为0.8%合格。

一般认为,电力变压器绕组tanδ测试时的温度以10~40℃为宜。

变压器的tgδ值与历年的数值比较不应有显著变化(一般不大于()%)。A、10B、20C、30D、40

110kV~220kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为1.5%合格。

测量电力变压器绕组连同套管的直流电阻,与同温下产品出厂实测数值比较,相应变化不应大于()。

220kV变压器被测绕组的tanδ值不应大于产品出厂试验值的()。

变压器交接试验时,绕组连同套管的直流电阻测量与出厂实测值比较,变化不应大于()%。A、1B、2C、3D、4

500kV电抗器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值不大于()。A、0.4%B、0.5%C、0.6%D、0.8%

测得220kV变压器绕组连同套管,在温度4℃,相对湿度85%时的tanδ值为0.8%合格。

110kV~220kV变压器绕组连同套管的tanδ值在20℃时()合格。A、0.2%B、0.5%C、0.4%D、0.8%

35kV变压器绕组连同套管的tanδ值,在20℃时测得tanδ值为1.5%不合格。

变压器绕组的介质损耗因数tgδ(20℃)与历年数值相比一般不大于()%变化。A、10B、20C、30D、40

填空题220kV变压器被测绕组的tanδ值不应大于产品出厂试验值的()。

单选题变压器的tgδ值与历年的数值比较不应有显著变化(一般不大于()%)。A10B20C30D40

填空题测量电力变压器绕组连同套管的直流电阻,与同温下产品出厂实测数值比较,相应变化不应大于()。