探测面与工件底面不平行时()。A、导致荧光屏图象中失去底面回波B、难以对平行于入射面的缺陷进行定位C、通常表示在金属中存在疏松状态D、减小试验的穿透力

探测面与工件底面不平行时()。

  • A、导致荧光屏图象中失去底面回波
  • B、难以对平行于入射面的缺陷进行定位
  • C、通常表示在金属中存在疏松状态
  • D、减小试验的穿透力

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探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。()此题为判断题(对,错)。

探测面与工件底面不平行时( )。A.导致荧光屏图象中失去底面回波B.难以对平行于入射面的缺陷进行定位C.通常表示在金属中存在疏松状态D.减小试验的穿透力

在检验工件时若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是():A.大而平的缺陷与入射声束取向不良B.疏松C.晶粒粗大D.以上都是

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面B.与声束方向平行C.与探测面成较大角度D.平行且靠近底面

直探头纵波探伤时,工件上下表面不平行会产生()。A、底面回波降低或消失B、底面回波不降低C、底面回波变窄D、以上都不对

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

在何种情况下,锻钢件超声波检测需要使用对比试块调节探测灵敏度?()A、厚度大于等于三倍近场长度,工件表面光洁度大于等于3.2μm,探测面与底面平行B、厚度大于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面平行C、厚度小于等于三倍近场长度,工件表面粗糙,探测面与底面不平行

斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波,底面回波消失D、缺陷回波和底面回波同时存在

垂直探伤时,工件探测面与底面不平行,底波将()或()

入射表面与底面之间若不平行,将()A、使荧屏上不含底面反射信号B、使平行于入射面的缺陷难于检出C、通常表明金属中存在多孔信号D、降低检测的穿透力

在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A、大而平的缺陷与入射声束取向不良B、疏松C、晶粒粗大D、以上都是

锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A、无底面回波或底面回波降低B、难以发现平行探测面的缺陷C、声波穿透能力下降D、缺陷回波受底面回波影响

超声波试验系统分辨底面回波与靠近底面的小缺陷回波的能力()A、主要取决于仪器发射的脉冲持续时间B、与被探工件的底面粗糙度无关C、主要取决于被检零件的厚度D、用直径较大的探头可以得到改善

探测面与工件底面不平行时()A、导致荧光屏图像中失去底面回波B、难以对平行于入射面的缺陷进行定位C、通常表示在金属中存在疏松状态D、减小试验的穿透力

斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A、没有底面回波B、有底面回波C、有大型缺陷回波时底面回波消失D、有大型缺陷回波时有底面回波

探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

单选题斜入射横波法探测平板形试件时,探测图形中()。A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波时底面回波消失D有大型缺陷回波时有底面回波

单选题探测面与工件底面不平行时()A导致荧光屏图像中失去底面回波B难以对平行于入射面的缺陷进行定位C通常表示在金属中存在疏松状态D减小试验的穿透力

填空题垂直探伤时,工件探测面与底面不平行,底波将()或()

单选题锻钢件大平底面与探测面不平行时,会产生:()A无底面回波或底面回波降低B难以发现平行探测面的缺陷C声波穿透能力下降D缺陷回波受底面回波影响

判断题探测面与工件底面不平行时将导致底面回波消失。A对B错

单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷取向可能是()。A平行且靠近探测面B与声束方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面

单选题在检验工件时,若无缺陷显示,则操作者应注意底面回波,若底面回波的高度剧烈下降,引起这种情况的原因可能是()A大而平的缺陷与入射声束取向不良B疏松C晶粒粗大D以上都是

单选题入射表面与底面之间若不平行,将()A使荧屏上不含底面反射信号B使平行于入射面的缺陷难于检出C通常表明金属中存在多孔信号D降低检测的穿透力

单选题方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一游动缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是()。A平行且靠近探测面B与声速方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面

单选题斜入射横波法探测平板形试块时,探测回波中()A没有底面回波B有底面回波C有大型缺陷回波,底面回波消失D缺陷回波和底面回波同时存在