单选题目前使用最多的可靠性鉴定试验是(  )假设情形下的统计试验方案。A对称分布B泊松分布C二项分布D指数分布

单选题
目前使用最多的可靠性鉴定试验是(  )假设情形下的统计试验方案。
A

对称分布

B

泊松分布

C

二项分布

D

指数分布


参考解析

解析:
可靠性鉴定试验是一种验证试验。产品可靠性指标的验证工作原理是建立在一定寿命分布假设的基础上的。目前使用最多的是指数分布假设情形下的统计试验方案。

相关考题:

可靠性验收试验是一种统计试验,可采用( )方案。A.随机试验B.序贯试验C.定时截尾试验D.随机截尾试验E.定数截尾试验

可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是( )。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.产品性能试验D.可靠性验收试验E.可靠性增长试验

可靠性鉴定试验是一种( )。A.工程试验B.性能试验C.统计试验D.环境试验

下列关于可靠性鉴别试验的说法,不正确的是( )。A.θ0、θ1,分别是MTBF检验的上限值和下限值B.定时截尾的可靠性鉴定试验的时间越短,风险越高C.同样风险的情况下,鉴别比越小,试验时间越短D.定时截尾的可靠性鉴定试验只要求累计试验时间,试验的产品数可视情况自定

可靠性鉴定试验是一种( )试验。A.工程试验B.性能试验C.统计试验D.环境试验

可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括( )、可靠性增长试验。A.环境应力筛选试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性测定试验D.可靠性验收试验

为暴露产品薄弱环节,并证明改进措施防止薄弱环节再现,在规定的环境应力下进行的试验是( )。A.可靠性鉴定试验B.可靠性增长试验C.加速寿命试验D.可靠性测定试验

可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括( )。A.环境应力试验B.可靠性增长试验C.可靠性鉴定试验D.可靠性验收试验E.可靠性测定试验

可靠性验收试验要求与可靠性鉴定试验的()相同A、试验方案B、样本量C、试验样品D、综合试验环境

可靠性试验可分为工程试验和( )。A.统计试验B.可靠性鉴定试验C.可靠性验收试验D.可靠性增长试验

听力原文:可靠性验收试验是对已交付产品在规定条件下所做的试验,以验证产品可靠性不随生产条件的变化而降低。可靠性验收试验是一种统计试验,常采用的试验方案有( )。A.调整型抽样方案B.定时截尾试验方案C.序贯试验方案D.定数截尾试验方案E.计数抽样试验方案

可靠性验收试验是一种统计试验,常采用的试验方案有( )。A.调整型抽样方案B.定时截尾试验方案C.序贯试验方案D.定数截尾试验方案E.计数抽样试验方案

关于不同可靠性试验类型的说法,正确的有( )。A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷

在定时截尾的可靠性鉴定试验中,决定试验方案的参数有()。A、生产方风险αB、使用方风险βC、产品合格品率D、鉴别比dE、产品研制的风险

可靠性鉴定试验是一种()试验A、工程试验B、性能试验C、统计试验D、环境试验

关于可靠性鉴定试验方案的错误说法是()。A、定数截尾试验方案的统计结果精确,可用于服从指数分布或二项分布的产品。B、使用方和生产方风险越高越好。C、定时截尾试验方案是目前使用最多的试验方案。D、序贯截尾试验方案是目前使用最少的试验方案。

关于可靠性鉴定试验的错误说法是()。A、是验证产品的设计是否达到了规定的可靠性要求所做的试验。B、是产品可靠性的确认试验。C、属于验证试验,不是统计试验。D、是研发产品进入量产前的一种验证试验。

半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验

单选题为暴露产品薄弱环节,并证明改进措施防止薄弱环节再现,在规定的环境应力下进行的试验是(  )。A可靠性鉴定试验B可靠性增长试验C加速寿命试验D可靠性测定试验

单选题可靠性鉴定试验是一种(  )试验。A工程试验B性能试验C统计试验D环境试验

单选题可靠性试验可分为工程试验和(  )。A统计试验B可靠性鉴定试验C可靠性验收试验D可靠性增长试验

单选题可靠性鉴定试验的目的是(  )。A为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B为环境应力筛选试验作准备C为进行可靠性增长试验服务D对可靠性验收试验进行鉴定

多选题可靠性试验一般分为工程试验和统计试验,下述属于工程试验的是(  )。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C产品性能试验D可靠性验收试验E可靠性增长试验

单选题可靠性鉴定试验是一种(  )。A工程试验B性能试验C统计试验D环境试验

单选题半导体产品的烤机试验,将产品暴露在高温下,来强制缺陷发生,这种可靠性试验属于()A可靠性测定试验B可靠性鉴定试验C可靠性验收实验D环境应力筛选试验

多选题可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验,统计试验包括(  )。A环境应力试验B可靠性增长试验C可靠性鉴定试验D可靠性验收试验E可靠性测定试验

多选题可靠性验收试验是一种统计试验,常采用的试验方案有(  )。A调整型抽样方案B定时截尾试验方案C序贯试验方案D定数截尾试验方案E计数抽样试验方案