可靠性试验一般分为工程试验和统计试验，下述属于工程试验的是( )。A．环境应力筛选试验B．可靠性鉴定试验C．产品性能试验D．可靠性验收试验E．可靠性增长试验
可靠性鉴定试验是一种( )试验。A．工程试验B．性能试验C．统计试验D．环境试验
可靠性验收试验要求与可靠性鉴定试验的()相同A、试验方案B、样本量C、试验样品D、综合试验环境
可靠性试验可分为工程试验和( )。A．统计试验B．可靠性鉴定试验C．可靠性验收试验D．可靠性增长试验
可靠性鉴定试验的目的是( )。A．为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B．为环境应力筛选试验作准备C．为进行可靠性增长试验服务D．对可靠性验收试验进行鉴定
可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验，其中统计试验包括（ ）。
可靠性测定试验目的是测定产品的可靠性水平，方法是投入若干产品进行寿命试验，可分为（ ）。A.可靠性增长试验 B.定时截尾试验C.恒定应力加速寿命试验 D.定数截尾试验E.环境应力试验
关于不同可靠性试验类型的说法，正确的有（ ）。A.环境应力筛选试验可以剔除早期故障B.可靠性增长试验可以提高产品可靠性C.加速寿命试验是在超过正常应力水平下进行的寿命试验D.可靠性鉴定试验是用具有代表性的产品在规定条件下所做的验证试验E.可靠性验收试验用于发现设计缺陷
可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括（ ）、可靠性增长试验。A.环境应力筛选试验 B.可靠性鉴定试验C.可靠性测定试验 D.可靠性验收试验
可用于剔除不良元器件，减少早期故障的可靠性试验是( )A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验
可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验，统计试验包括（ ）。 A.环境应力试验 B.可靠性增长试验C.可靠性鉴定试验 D.可靠性验收试验E.可靠性测定试验
可靠性鉴定试验是一种（ ）。A.工程试验 B.性能试验 C.统计试验 D.环境试验
可靠性鉴定试验是一种（）试验A、工程试验B、性能试验C、统计试验D、环境试验
可靠性研制试验中高于实际使用应力条件的试验有（）。A、可靠性增长摸底试验B、可靠性摸底试验C、可靠性强化试验D、高加速寿命试验
可靠性增长试验的相关问题有（）。A、可靠性增长试验的适用范围B、可靠性增长试验对受试产品的要求C、可靠性增长试验的选择D、可靠性增长试验与可靠性增长试验与可靠性鉴定试验的关系E、可靠性增长试验的随机性
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验
可靠性试验分为（）。A、工艺试验B、工程试验C、统计试验D、可靠试验E、随机试验
单选题为暴露产品薄弱环节，并证明改进措施防止薄弱环节再现，在规定的环境应力下进行的试验是（ ）。A可靠性鉴定试验B可靠性增长试验C加速寿命试验D可靠性测定试验
多选题可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验，统计试验包括（ ）。A环境应力试验B可靠性增长试验C可靠性鉴定试验D可靠性验收试验E可靠性测定试验
单选题可靠性鉴定试验的目的是（ ）。A为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B为环境应力筛选试验作准备C为进行可靠性增长试验服务D对可靠性验收试验进行鉴定
多选题可靠性试验一般分为工程试验和统计试验，下述属于工程试验的是( )。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C产品性能试验D可靠性验收试验E可靠性增长试验
单选题可靠性鉴定试验是一种（ ）。A工程试验B性能试验C统计试验D环境试验
单选题半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）A可靠性测定试验B可靠性鉴定试验C可靠性验收实验D环境应力筛选试验
单选题可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括（ ）、可靠性增长试验。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C可靠性测定试验D可靠性验收试验
多选题可靠性测定试验目的是测定产品的可靠性水平，方法是投入若干产品进行寿命试验，可分为（ ）。A可靠性增长试验B定时截尾试验C恒定应力加速寿命试验D定数截尾试验E环境应力试验
单选题可靠性试验可分为工程试验和（ ）。A统计试验B可靠性鉴定试验C可靠性验收试验D可靠性增长试验
单选题可靠性鉴定试验是一种（）试验A工程试验B性能试验C统计试验D环境试验
多选题可开展的可靠性试验包括（ ）。A产品功能试验B环境应力筛选试验C可靠性增长试验D可靠性鉴定试验