ZPW－2000A型无绝缘轨道电路,在衰耗盒上的“轨出2”测试孔,测出的值为()电压。 A.本区段主轨输出B.本区段小轨输出C.前方相邻区段小轨输出D.后方相邻区段小轨输出
ZPW－2000A型在衰耗盒的“GJ()”测试孔,测出的值为()。 A、主机主轨继电器;电压B、并机主轨继电器;电压C、主机小轨继电器;电压D、并机小轨继电器;电压
ZPW－2000A型在衰耗盒的“XG”测试孔,测出的值为()。 A、主机主轨继电器电压B、小轨继电器电压C、并机小轨继电器电压D、主机小轨继电器电压
ZPW－2000A型在衰耗盒上的“轨出1”测试孔,测出的值为()。 A、主轨输出电压B、小轨输出电压C、相邻小轨输出电压D、主轨和小轨输出电压
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔
ZPW-2000轨道电路衰耗盒轨出2的电压一般在100~130mv，是小轨经过电平调整前的电压。
小轨电压测试：用移频仪选择与该区段小轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A、轨入B、轨出1C、功出D、轨出2
ZPW-2000轨道电路衰耗盒背面R1~R12的作用是（）。A、调整主轨电压B、调整小轨电压C、调整反向主轨电压D、调整反向小轨电压
ZPW-2000A轨道电路的小轨道输入电压就是衰耗盘塞孔上“轨出2”上的电压。
ZPW-2000A型无绝缘移频轨道电路，在调整状态下，衰耗盘小轨轨入电压≥（）mV。A、100B、63C、42D、130
ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试孔，测出的值为（）。A、主轨输出电压B、小轨输出电压C、相邻小轨输出电压D、主轨和小轨输出电压
主轨电压测试：用移频仪选择与该区段主轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A、轨入B、轨出1C、功出D、轨出2
ZPW-2000A轨道电路发送、接收电源电压测试：用移频综合测试仪（简称移频仪）直流电压档，在衰耗盒（）“塞孔上测得。A、发送电源”、“接收电源”B、轨入C、轨出1D、轨出2
单独调整ZPW-2000移频自动闭塞轨出1电压的方法有（）。A、精确调整法（按照轨道电路长度、电路补偿制式，确定电平级）；B、经验调整法（根据公式：116/轨入主轨电*理想轨出一值，确定电平级）；C、利用微机监测校核功能调整不合适的电压。D、无法调整
判断题ZPW-2000A轨道电路的小轨道输入电压就是衰耗盘塞孔上“轨出2”上的电压。A对B错
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试小轨道输出电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔
单选题主轨电压测试：用移频仪选择与该区段主轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A轨入B轨出1C功出D轨出2
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主轨道输出电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨入测试孔B衰耗盒轨出1测试孔C衰耗盒轨出2测试孔D衰耗盒GJ测试孔
判断题ZPW-2000轨道电路衰耗盒轨出1的电压一般大于240mv，是主轨轨经过电平调整后的电压。A对B错
单选题ZPW-2000A型在衰耗盒的“XGJ”测试孔，测出的值为（）。A小轨继电器电压B主轨继电器电压C邻区段小轨继电器电压D并机小轨继电器电压
单选题ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试孔，测出的值为（）。A主轨输出电压B小轨输出电压C相邻小轨输出电压D主轨和小轨输出电压
单选题ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出1”测试孔，测出的值为（）A主轨输出电压B小轨输出电压C相邻小轨输出电压D主轨和小轨输出电压
多选题单独调整ZPW-2000移频自动闭塞轨出1电压的方法有（）。A精确调整法（按照轨道电路长度、电路补偿制式，确定电平级）；B经验调整法（根据公式：116/轨入主轨电*理想轨出一值，确定电平级）；C利用微机监测校核功能调整不合适的电压。D无法调整
单选题ZPW-2000轨道电路衰耗盒背面Z1~Z12的作用是（）。A调整主轨电压B调整小轨电压C调整反向主轨电压D调整反向小轨电压
单选题小轨电压测试：用移频仪选择与该区段小轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A轨入B轨出1C功出D轨出2
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主机轨道继电器电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔