ZPW－2000A型无绝缘轨道电路,衰耗盒上的“轨入”测试孔,测出的值为()电压。 A.本区段主轨和小轨输入B.本区段主轨，前方区段小轨C.本区段主轨，后方区段小轨D.本区段主轨和小轨输出
ZPW－2000A型无绝缘轨道电路,在衰耗盒的“XGJ”测试孔,测出的值为()电压。 A.本区段小轨继电器B.本区段主轨继电器C.后方邻区段小轨继电器D.前方邻区段小轨继电器
ZPW－2000A型无绝缘轨道电路,在衰耗盒上的“轨出2”测试孔,测出的值为()电压。 A.本区段主轨输出B.本区段小轨输出C.前方相邻区段小轨输出D.后方相邻区段小轨输出
ZPW－2000A型无绝缘轨道电路,在衰耗盒的“GJ(B)”测试孔,测出的值为()电压。 A.主机主轨继电器B.并机主轨继电器C.主机小轨继电器D.并机小轨继电器
ZPW－2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试空,测出的值为()。 A、主轨输出电压B、小轨输出电压C、相邻小轨输出电压D、主轨和小轨输出电压
ZPW－2000A型在衰耗盒的“XGJ”测试孔,测出的值为()。 A、小轨继电器电压B、主轨继电器电压C、邻区段小轨继电器电压D、并机小轨继电器电压
ZPW-2000A衰耗器中XGJ（Z）测试插孔主要测试（）执行条件XGJ主机电压。
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试并机小轨道继电器电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒XGJ（Z）测试孔B、衰耗盒XGJ（B）测试孔C、衰耗盒XGJ测试孔D、衰耗盒GJ测试孔
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表L2码。A、10.3HzB、12.5HzC、11.4HzD、13.6Hz
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为（）时，其代表LU码。A、10.3HzB、12.5HzC、11.4HzD、13.6Hz
ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试孔，测出的值为（）。A、主轨输出电压B、小轨输出电压C、相邻小轨输出电压D、主轨和小轨输出电压
在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为16.9Hz时，其代表（）码。A、UB、HUC、HD、UU
ZPW-2000A型上，衰耗盒上的“轨入”测试孔，测出的值为（）A、本区段主轨、本区段小轨B、本区段主轨、前方段小轨C、本区段主轨D、本区段小轨
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试小轨道输出电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨入测试孔B衰耗盒轨出1测试孔C衰耗盒轨出2测试孔D衰耗盒GJ测试孔
单选题ZPW-2000A型在衰耗盒的“GJ(B)”测试孔，测出的值为（）。A主机主轨继电器电压B并机主轨继电器电压C主机小轨继电器电压D并机小轨继电器电压
单选题ZPW-2000A型上，衰耗盒上的“轨入”测试孔，测出的值为（）A本区段主轨、本区段小轨B本区段主轨、前方段小轨C本区段主轨D本区段小轨
单选题ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试孔，测出的值为（）。A主轨输出电压B小轨输出电压C相邻小轨输出电压D主轨和小轨输出电压
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为10.3Hz时，其代表（）码。AL3BL2CLDLU
填空题ZPW-2000A衰耗器中XGJ（Z）测试插孔主要测试（）执行条件XGJ主机电压。
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主机轨道继电器电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主机小轨道继电器电压，其测试位置为（）。A衰耗盒XGJ（Z）测试孔B衰耗盒XGJ（B）测试孔C衰耗盒XGJ测试孔D衰耗盒GJ测试孔
单选题在处理ZPW-2000A型轨道电路故障时，测试衰耗盒功出测试孔时，其低频频率为18Hz时，其代表（）码。AUBHUCHDUU