ZPW－2000A型无绝缘轨道电路,衰耗盒上的“轨入”测试孔,测出的值为()电压。 A.本区段主轨和小轨输入B.本区段主轨，前方区段小轨C.本区段主轨，后方区段小轨D.本区段主轨和小轨输出
ZPW－2000A型无绝缘轨道电路,在衰耗盒上的“轨出2”测试孔,测出的值为()电压。 A.本区段主轨输出B.本区段小轨输出C.前方相邻区段小轨输出D.后方相邻区段小轨输出
ZPW－2000A型无绝缘轨道电路衰耗器GJ测试孔用来测试主轨发送电压。() 此题为判断题(对，错)。
ZPW－2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试空,测出的值为()。 A、主轨输出电压B、小轨输出电压C、相邻小轨输出电压D、主轨和小轨输出电压
ZPW－2000A型在衰耗盒上的“轨出1”测试孔,测出的值为()。 A、主轨输出电压B、小轨输出电压C、相邻小轨输出电压D、主轨和小轨输出电压
ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗盒的作用是（）。A、对主轨道电路轨出1电压的调整B、对调谐区小轨道电路轨出2电压的调整C、发送功出电压和轨道继电器电压等测试条件D、给出发送器、接收器故障报警及轨道状态指示灯
ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A、衰耗盒轨入测试孔B、衰耗盒轨出1测试孔C、衰耗盒轨出2测试孔D、衰耗盒GJ测试孔
ZPW-2000轨道电路衰耗盒轨出2的电压一般在100~130mv，是小轨经过电平调整前的电压。
小轨电压测试：用移频仪选择与该区段小轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A、轨入B、轨出1C、功出D、轨出2
ZPW-2000A轨道电路的小轨道输入电压就是衰耗盘塞孔上“轨出2”上的电压。
ZPW-2000A型无绝缘移频轨道电路，在调整状态下，衰耗盘小轨轨入电压≥（）mV。A、100B、63C、42D、130
ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试孔，测出的值为（）。A、主轨输出电压B、小轨输出电压C、相邻小轨输出电压D、主轨和小轨输出电压
主轨电压测试：用移频仪选择与该区段主轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A、轨入B、轨出1C、功出D、轨出2
ZPW-2000A轨道电路发送、接收电源电压测试：用移频综合测试仪（简称移频仪）直流电压档，在衰耗盒（）“塞孔上测得。A、发送电源”、“接收电源”B、轨入C、轨出1D、轨出2
单选题ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗器测试轨入电压，主轨道电压符合区段调整表指标：轨出l电压大于或等于（）mV。A240B110C74D36
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试小轨道输出电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔
单选题主轨电压测试：用移频仪选择与该区段主轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A轨入B轨出1C功出D轨出2
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主轨道输出电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试接收盒输入电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨入测试孔B衰耗盒轨出1测试孔C衰耗盒轨出2测试孔D衰耗盒GJ测试孔
单选题ZPW-2000A型无绝缘移频轨道电路，在调整状态下，衰耗盘小轨轨入电压≥（）mV。A100B63C42D130
单选题ZPW-2000A系统中，在衰耗盘的“轨道输入”塞孔测量接收器输入电压，主轨道必须大于（）A33mVB110mVC240mVD220mV
单选题ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出2”测试孔，测出的值为（）。A主轨输出电压B小轨输出电压C相邻小轨输出电压D主轨和小轨输出电压
单选题ZPW-2000A型在衰耗盒上的“轨出1”测试孔，测出的值为（）A主轨输出电压B小轨输出电压C相邻小轨输出电压D主轨和小轨输出电压
单选题ZPW-2000A轨道电路发送、接收电源电压测试：用移频综合测试仪（简称移频仪）直流电压档，在衰耗盒（）“塞孔上测得。A发送电源”、“接收电源”B轨入C轨出1D轨出2
单选题小轨电压测试：用移频仪选择与该区段小轨相同频率档，再选电压档，轨道电路处于调整状态下，在衰耗盒“（）”塞孔上测得。A轨入B轨出1C功出D轨出2
多选题ZPW-2000A无绝缘轨道电路衰耗盒的作用是（）。A对主轨道电路轨出1电压的调整B对调谐区小轨道电路轨出2电压的调整C发送功出电压和轨道继电器电压等测试条件D给出发送器、接收器故障报警及轨道状态指示灯
单选题ZPW-2000系列无绝缘轨道电路在进行测试时，测试主机轨道继电器电压，其测试位置为（）。A衰耗盒轨出1测试孔B衰耗盒轨出2测试孔C衰耗盒GJ（Z）测试孔D衰耗盒GJ（B）测试孔