CSK一1A试块矽50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。()
下列属于日本标准试块的是() A、CSK—IBB、STB—GC、RBD、IIW
斜探头的K值常用CSK-ⅠA试块上的φ50和φ1.5横孔来测定。
CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A、 直探头的的远场分辨力B、 斜探头的K值C、 斜探头的入射点D、 斜探头的声束偏斜角
CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。
CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）A、测定斜探头K值B、测定直探头盲区范围C、测定斜探头分辨率D、以上全部
70度探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测Ф50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测Ф50圆弧C、在CSK-1A试块探测Ф1.5横孔D、在半圆试块上测定
《钢轨探伤管理规则》规定，探伤生产机构应配备标准试块如CS-1-5试块、CSK-1A或IIW试块。
70°探头折射角测定应（）。A、在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B、在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C、在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D、在半圆试块上测定
试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。
CSK-1A试块直径50毫米有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
0°探头分辨率的测定应使用（）。A、CSK-1A试块85、91台阶底面B、CSK-1A试块φ40、44圆弧面C、WGT-1试块D、WGT-2试块
IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
判断题与IIW试块相比CSK－IA试块的优点之一是可以测定斜探头分辨力。A对B错
判断题与IIW试块相比，CSKⅠA试块的优点之一是可以测定斜探头的分辨力。A对B错
判断题CSK-ⅠA试块上φ50 、φ44、φ40 三孔的台阶，可用来测定斜探头的分辨力。A对B错
问答题我国的CSK－IA试块与IIW试块有何不同？德国和日本对IIW试块作了哪些修改？
问答题试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？
判断题IIW试块测定斜探头的入射点，在探测任何声速的试件时其位置不变。A对B错
单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A不变B变化
单选题用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A不变B变化
单选题70°探头折射角测定应（）。A在CSK-1A试块A面探测φ50圆弧B在CSK-1A试块B面探测φ50圆弧C在CSK-1A试块探测φ1.5横孔D在半圆试块上测定
单选题CSK-IB试块将IIW试块的Φ50孔改为Φ40、Φ44、Φ50台阶孔，其目的是（）A测定斜探头K值B测定直探头盲区范围C测定斜探头分辨力D以上全是
单选题CSK－ⅠA试块的的R50、R100圆弧面，可用来测定（）。A 直探头的的远场分辨力B 斜探头的K值C 斜探头的入射点D 斜探头的声束偏斜角