多选题下列状态下,过程未处于统计控制状态的有(  )。[2008年真题]A连续8点落在中心线一侧B连续6点递增C连续14点交替上下D连续5点中有4点落在C区以外E连续15点落在中心线附近的C区内

多选题
下列状态下,过程未处于统计控制状态的有(  )。[2008年真题]
A

连续8点落在中心线一侧

B

连续6点递增

C

连续14点交替上下

D

连续5点中有4点落在C区以外

E

连续15点落在中心线附近的C区内


参考解析

解析:
国标GB/T4091—2001《常规控制图》中规定了8种判异准则,依次为:①准则1,一点落在A区以外;②准则2,连续9点落在中心线同一侧;③准则3,连续6点递增或递减;④准则4,连续14点相邻点上下交替;⑤准则5,连续3点中有2点落在中心线同一侧的B区以外;⑥准则6,连续5点中有4点落在中心线同一侧的C区以外;⑦准则7,连续15点在C区中心线上下;⑧准则8,连续8点在中心线两侧,但无一在C区中。

相关考题:

生产过程中常说的统计控制状态是指( )。A.统计控制状态,是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B.控制状态是生产追求的目标,因为在控制状态下,对产品的质量有完全的把握C.通常控制图的控制界限都在规范限之内,故至少有99.73%的产品是合格品D.在控制状态下生产的不合格品少,生产最经济E.统计控制状态是指过程中只有异常因素的状态

根据上述计算结果,判断过程( )。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

关于技术控制状态和统计控制状态的说法,正确的有( )。A.没有达到技术控制状态则没有达到统计控制状态B.分析用控制图上的点子在控制限内随机排列,则过程达到统计控制状态C.处于统计控制状态的过程一定处于技术控制状态D.没达到统计控制状态的过程不能计算过程能力指数c,E.处于统计控制状态的过程可能并未达到技术控制状态

关于统计控制状态的谫法,正确的有( )。A.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子均在控制限内B.判定过程处于统计控制状态时,控制图上的点子在中心线上下随机分布C.统计控制状态是指过程只有偶然因素的状态D.统计控制状态是指过程能力充足的状态E.统计控制状态是指过程既有偶然因素又有异常因素的状态

关于统计控制状态,下列说法正确的有( )。A.统计控制状态是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B.控制状态是生产追求的目标,因为在控制状态下,对产品的质量有完全的把握C.通常控制图的控制界限都在规范限之内,故至少有99.73%的产品是合格品D.在控制状态下生产的不合格品最少,生产最经济E.统计控制状态是指过程中只有异因无偶因产生的变异的状态

关于处于统计控制状态的过程的说法,正确的有( )。A.处于统计控制状态的过程将连续生产出满足规定要求的产品B.处于统计控制状态的过程的过程能力指数Cp大于或等于1C.控制图上没有点子落在控制限外且界内点随机排列时,可判定过程处于统计控制状态D.处于统计控制状态的过程中只有偶因而无异因产生的波动E.处于统计控制状态的过程的性能是可预测的

下列状态下,过程未处于统计控制状态的有( )。A.连续8点落在中心线一侧 B.连续6点递增C.连续14点交替上下 D.连续5点中有4点落在C区以外E.连续15点落在中心线附近的C区内

关于统计控制状态与失控状态的说法,正确的有( )。A.当过程中既有偶然因素也有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态B.当过程中只有偶然因素而没有异常因素的影响时,过程处于统计控制状态C.在统计控制状态下,过程的波动达到最小,不可能再改进D.过程处于失控状态时,无法估计过程能力E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判定过程处于统计控制状态

关于过程状态的说法,正确的有( )。A.在统计控制状态下,可以预测过程波动的大小B.当过程处于失控状态时,过程的分布将发生改变C.过程处于统计控制状态时,CP≥1 D.异常因素会导致过程失控E.当控制图上所有点子都落在控制限内时,可以判断过程一定处于统计控制状态

控制图上点出界,则表明( )。[2007年真题]A.过程处于技术控制状态 B.过程可能存在异常因素C.小概率事件发生 D.过程稳定性较好E.过程未处于统计控制状态

在控制图中,连续8点落在中心线两侧且无一在C区,可以判定( )。[2008年真题]A.过程出现异常 B.过程处于统计控制状态C.过程能力充足 D.过程的波动减小

加工一种轴承,其规格为10±0.08mm,要求过程能力指数Cpk>l。收集25组 数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到:μ = 10. 04 mm, σ=0. 02 mm。根据上述计算结果,判断过程()。A.处于统计控制状态和技术控制状态B.处于统计控制状态,未处于技术控制状态C.未处于统计控制状态,处于技术控制状态D.未处于统计控制状态和技术控制状态

若过程处于统计控制状态,则控制图中的点子不超出上、下控制限的概率是( )。[2008年真题]A. 95. 4% B. 99. 0% C. 99. 73% D. 99. 90%

以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A、过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B、过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C、过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D、过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

下列对流程的陈述中错误的是()A、当流程不受特殊因素影响时,流程处于统计受控状态下B、当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时,流程处于统计受控状态下C、当控制限落在客户规格限内时,流程处于统计受控状态下D、当流程仅受偶然原因变异的影响时,流程处于统计受控之下

从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A、过程处于统计控制状态B、具有足够的生产能力C、过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D、过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题下列对流程的陈述中错误的是()A当流程不受特殊因素影响时,流程处于统计受控状态下B当所有数据点都落在控制限内并围绕均值随机散布时,流程处于统计受控状态下C当控制限落在客户规格限内时,流程处于统计受控状态下D当流程仅受偶然原因变异的影响时,流程处于统计受控之下

多选题控制图上点出界,则表明(  )。[2007年真题]A过程处于技术控制状态B过程可能存在异常因素C小概率事件发生D过程稳定性较好E过程未处于统计控制状态

单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是(  )。[2006年真题]A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题统计过程控制主要包括(  )两个方面的内容。[2008年真题]A应用分析用控制图和控制用控制图B利用控制图分析过程的稳定性和评价过程质量C评价过程性能和评价过程能力D判断过程是否处于技术控制状态和评价过程性能

单选题以下关于过程统计控制状态,说法不正确的是()A过程中没有异常因素影响,则说过程处于过程统计控制状态B过程统计控制状态的好处是可预测下一时间的过程波动C过程处于过程统计控制状态,则说明过程的产品处于规格限内D过程统计控制状态是进行过程能力分析的前提条件

单选题加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm 根据以上材料,回答:下列论述正确的是()。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态

多选题下列状态下,过程未处于统计控制状态的有(  )。[2008年真题]A连续8点落在中心线一侧B连续6点递增C连续14点交替上下D连续5点中有4点落在C区以外E连续15点落在中心线附近的C区内

多选题生产过程中常说的统计控制状态是指(  )。A统计控制状态,是指过程中只有偶因而无异因产生的变异的状态B控制状态是生产追求的目标,因为在控制状态下,对产品的质量有完全的把握C通常控制图的控制界限都在规范限之内,故至少有99.73%的产品是合格品D在控制状态下生产的不合格品少,生产最经济E统计控制状态是指过程中只有异常因素的状态

单选题从SPC的角度看,一个合格的过程应当具备的条件是()。A过程处于统计控制状态B具有足够的生产能力C过程处于统计控制状态并具有足够的过程能力D过程处于统计控制状态但过程能力不足

单选题在控制图中,连续8点落在中心线两侧且无一在C区,可以判定(  )。[2008年真题]A过程出现异常B过程处于统计控制状态C过程能力充足D过程的波动减小

单选题若过程处于统计控制状态,则控制图中的点子不超出上、下控制限的概率是(  )。[2008年真题]A95.4%B99.0%C99.73%D99.90%

不定项题(六)加工一种轴承,其规格为10±0.08mm。要求Cpk ≥1。收集25组数据绘制分析用控制图,未显示异常。计算得到: μ=10.04mm,σ=0.02mm根据以上材料,回答{TSE}题:{TS}下列论述正确的是(  )。A过程处于统计控制状态和技术控制状态B过程处于统计控制状态,未处于技术控制状态C过程未处于统计控制状态,处于技术控制状态D过程未处于统计控制状态和技术控制状态