锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。（）此题为判断题(对，错)。
锻件中缺陷的取向通常为（ ）。A.杂乱B.平行于晶粒流向C.垂直于晶粒流向D.与晶粒流向成45°角
锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是()A.与主轴线平行B.与副轴线平行C.与锻件流线一致D.与锻件流线约成45°角
锻件超声检测中，当缺陷回波很高、并有多次重复反射，而底波严重下降甚至消失，说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是（）A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是（）A、与主轴线平行B、与副轴线平行C、与锻件流线一致D、与锻件流线约成45°角
大锻件探伤时，通常采用直探头，其主要原因是（）A、锻造缺陷一般与锻造纤维方向平行B、探测面通常选择与锻造纤维方向平行的面C、锻件尺寸大，纵波探伤穿透力强D、以上三种原因都是
锻件中缺陷的取向通常为（）A、杂乱B、平行于晶粒流向C、垂直线与晶粒流向之间D、与晶粒流向成45º角
锻件中缺陷的取向通常为（）。A、杂乱B、平行于晶粒流向C、垂直于晶粒流向D、与晶粒流向成45°角
铁路货车锻件中缺陷的取向通常为（）A、杂乱B、平行于晶粒流向C、垂直线于晶粒流向D、倾斜于晶粒流向
锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？
铸件往往难以检验，因为（）。A、晶粒结构致密B、晶粒结构粗大C、流线均匀D、缺陷任意取向
方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷取向可能是（）。A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面
单选题锻件中缺陷的取向通常为（）。A杂乱B平行于晶粒流向C垂直于晶粒流向D与晶粒流向成45°角
单选题锻件中缺陷的取向通常为（）A杂乱B平行于晶粒流向C垂直线与晶粒流向之间D与晶粒流向成45º角
单选题铁路货车锻件中缺陷的取向通常为（）A杂乱B平行于晶粒流向C垂直线于晶粒流向D倾斜于晶粒流向
问答题锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起什么现象？
单选题方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A平行且靠近探测面B与声速方向平行C与探测面成较大角度D平行且靠近底面
判断题锻件超声检测中，当缺陷回波很高、并有多次重复反射，而底波严重下降甚至消失，说明锻件中存在平行于检测面的大面积缺陷。A对B错
单选题锻件中，非金属夹杂物的最可能取向是（）A与主轴线平行B与副轴线平行C与锻件流线一致D与锻件流线约成45°角