锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。()此题为判断题(对,错)。
锻件中缺陷的取向通常为平行于晶粒流向。()
此题为判断题(对,错)。
相关考题:
方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A.平行且靠近探测面B.与声束方向平行C.与探测面成较大角度D.平行且靠近底面
变形过程中晶粒会产生择优取向,通常会导致材料的力学性能各向异性。