底片密度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照得到的底片()。 A、密度大B、衬度最大，灵敏度高C、密度均匀D、几何不清晰度高
底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片()。 A、黑度大;B、黑度均匀;C、几何不清晰度高;D、对比度最大，灵敏度高
射线检测时，使用透度计的主要目的是___。A.测量缺陷大小B.测量底片黑度C.测量几何不清晰度D.衡量透照底片的影像质量
为提高透照底片的清晰度，选择焦距时，应该考虑的因素是（）A、射源的尺寸，射源的强度，胶片类型；B、工件厚度，胶片类型，射源类型；C、射源强度，胶片类型，增感屏类型；D、射源尺寸，几何不清晰度，工件厚度。
控制透照厚度比K值的主要目的是（）A、提高横向裂纹检出率；B、减小几何不清晰度；C、增大厚度宽容度；D、提高底片对比度。
透照同一工件，铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低。
当固有不清晰度不大于几何模糊度时，只要改善几何模糊度，仍可得到高清晰度的底片。
与低管电压透照的底片相比，高管电压透照的底片（）。A、宽容度大B、对比度高C、清晰度高D、以上都不对
评价底片照相质量的主要因素是（）A、底片黑度B、底片灰雾度C、底片几何不清晰度D、底片的灵敏度E、以上全是
被透照工件厚度δ=60mm，已知X光管的有效焦点d=0.4mm，选用焦距f=600mm，求该底片的最大几何不清晰度是多少？
射线探伤时，使用透度计的主要目的是（）A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量
改善透照底片的几何不清晰度可采用（）A、小焦点、大焦距透照B、小焦点、小焦距透照C、选细微粒胶片D、铅箔增感
当几何不清晰度选择不当，或胶片与铅箔增感屏接触不良，或者胶片的粒度太大，可能会引起什么结果？（）A、底片密度高B、底片清晰度不好C、底片有灰雾D、底片密度低
当固有不清晰度不大于几何不清晰度时，只要改善（），仍可得到高清晰度的底片。
X射线透照探伤，影响底片清晰度的因素是（），（）。
X射线管的焦点小，透照灵敏度（），底片清晰度（）。
改善透照底片几何不清晰度可采用（）透照方法。A、小焦点大焦距B、大焦点小焦距C、铅箔增感屏D、高度胶片
填空题X射线管的焦点小，透照灵敏度（），底片清晰度（）。
单选题为提高透照底片的清晰度，选择焦距时，应该考虑的因素是（）A射源的尺寸，射源的强度，胶片类型；B工件厚度，胶片类型，射源类型；C射源强度，胶片类型，增感屏类型；D射源尺寸，几何不清晰度，工件厚度。
单选题射线探伤时，使用透度计的主要目的是（）A测量缺陷大小B测量底片黑度C测量几何不清晰度D衡量透照底片的影像质量
填空题X射线透照探伤，影响底片清晰度的因素是（），（）。
问答题被透照工件厚度δ=60mm，已知X光管的有效焦点d=0.4mm，选用焦距f=600mm，求该底片的最大几何不清晰度是多少？
单选题底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区，这是因为在此区透照出的底片（）A黑度大；B黑度均匀；C几何不清晰度高；D对比度最大，灵敏度高
单选题改善透照底片几何不清晰度可采用（）透照方法。A小焦点大焦距B大焦点小焦距C铅箔增感屏D高度胶片
单选题改善透照底片的几何不清晰度可采用（）A小焦点、大焦距透照B小焦点、小焦距透照C选细微粒胶片D铅箔增感
单选题与低管电压透照的底片相比，高管电压透照的底片（）。A宽容度大B对比度高C清晰度高D以上都不对
单选题控制透照厚度比K值的主要目的是（）A提高横向裂纹检出率；B减小几何不清晰度；C增大厚度宽容度；D提高底片对比度。
单选题之所以要把底片黑度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区，是因为在此区域内透照得到的底片（）A黑度大B黑度最均匀C几何不清晰度高D对比度最大