控制透照厚度比K值的主要目的是()A、提高横向裂纹检出率;B、减小几何不清晰度;C、增大厚度宽容度;D、提高底片对比度。
控制透照厚度比K值的主要目的是()
- A、提高横向裂纹检出率;
- B、减小几何不清晰度;
- C、增大厚度宽容度;
- D、提高底片对比度。
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DL/T821一2002规定,对较大直径管道对接接头射线透照检验时,为提高横向裂纹检出率,应选用周向X射线机或γ射线源,采用中心全周透照法。若采用其他透照方法,则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2,纵缝K值不大于1.03。()
对环焊缝作源在外的单壁透照时,确定透照次数与()相关A、透照厚度比、工件外径、工件壁厚B、工件外径、透照厚度比、射线源与工件表面距离C、工件壁厚、透照厚度比、工件外径、射线源与工件表面距D、透照厚度比、工件壁厚/工件外径、工件外径/射线源与工件表面距离
判断题DL/T821一2002规定,对较大直径管道对接接头射线透照检验时,为提高横向裂纹检出率,应选用周向X射线机或γ射线源,采用中心全周透照法。若采用其他透照方法,则对被检区两端的最大穿透厚度与射线中心线穿透厚度比K值应满足:环缝K值不大于1.2,纵缝K值不大于1.03。()A对B错
单选题在一次椭圆成像透照中存在的主要困难是()A透照厚度比变化大B射线照射角变化大C有效透照长度变化大D以上都是