单选题改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。A小焦点大焦距B大焦点小焦距C铅箔增感屏D高度胶片

单选题
改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。
A

小焦点大焦距

B

大焦点小焦距

C

铅箔增感屏

D

高度胶片


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

底片密度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照得到的底片()。 A、密度大B、衬度最大,灵敏度高C、密度均匀D、几何不清晰度高

底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片()。 A、黑度大;B、黑度均匀;C、几何不清晰度高;D、对比度最大,灵敏度高

射线检测时,使用透度计的主要目的是___。A.测量缺陷大小B.测量底片黑度C.测量几何不清晰度D.衡量透照底片的影像质量

为提高透照底片的清晰度,选择焦距时,应该考虑的因素是()A、射源的尺寸,射源的强度,胶片类型;B、工件厚度,胶片类型,射源类型;C、射源强度,胶片类型,增感屏类型;D、射源尺寸,几何不清晰度,工件厚度。

透照容器环焊缝时选择焦距的原则是:采用内透照法应优先考虑厚度比K和失真角θ;采用外透照法应优先考虑几何不清晰度Ug。

透照同一工件,铅箔增感比荧光增感获得的底片清晰度高而对比度低。

与低管电压透照的底片相比,高管电压透照的底片()。A、宽容度大B、对比度高C、清晰度高D、以上都不对

在小径管透照中,影像各处的几何不清晰度都是一致的。

被透照工件厚度δ=60mm,已知X光管的有效焦点d=0.4mm,选用焦距f=600mm,求该底片的最大几何不清晰度是多少?

射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A、测量缺陷大小B、测量底片黑度C、测量几何不清晰度D、衡量透照底片的影像质量

下面关于几何修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?()A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正B、σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大C、为提高σ值而改变透照布置,常用的方法是增大焦距D、为提高底片对比度,应尽量采用σ1的透照布置

改善透照底片的几何不清晰度可采用()A、小焦点、大焦距透照B、小焦点、小焦距透照C、选细微粒胶片D、铅箔增感

下面关于集合修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?()A、当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正;B、σ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大;C、为提高σ而改变透照布置,常用的方法是增大焦距;D、为提高底片对比度,应尽量采用σ1的透照布置。

底片对比度是指()。A、底片上两个相邻部位的黑度差B、透照工件相邻部位的厚度差C、胶片反差系数D、清晰度和灵敏度

X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

X射线管的焦点小,透照灵敏度(),底片清晰度()。

改善透照底片几何不清晰度可采用()透照方法。A、小焦点大焦距B、大焦点小焦距C、铅箔增感屏D、高度胶片

填空题X射线管的焦点小,透照灵敏度(),底片清晰度()。

单选题为提高透照底片的清晰度,选择焦距时,应该考虑的因素是()A射源的尺寸,射源的强度,胶片类型;B工件厚度,胶片类型,射源类型;C射源强度,胶片类型,增感屏类型;D射源尺寸,几何不清晰度,工件厚度。

单选题射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A测量缺陷大小B测量底片黑度C测量几何不清晰度D衡量透照底片的影像质量

填空题X射线透照探伤,影响底片清晰度的因素是(),()。

单选题底片黑度范围限制在软片特性曲线的适当曝光区,这是因为在此区透照出的底片()A黑度大;B黑度均匀;C几何不清晰度高;D对比度最大,灵敏度高

单选题下面关于几何修正系数σ的叙述,哪一条是错误的?()A当缺陷尺寸小于射源尺寸时,才需要引入σ对底片对比度进行修正Bσ值越小,几何条件对底片对比度的影响越大C为提高σ值而改变透照布置,常用的方法是增大焦距D为提高底片对比度,应尽量采用σ1的透照布置

单选题改善透照底片的几何不清晰度可采用()A小焦点、大焦距透照B小焦点、小焦距透照C选细微粒胶片D铅箔增感

单选题与低管电压透照的底片相比,高管电压透照的底片()。A宽容度大B对比度高C清晰度高D以上都不对

单选题控制透照厚度比K值的主要目的是()A提高横向裂纹检出率;B减小几何不清晰度;C增大厚度宽容度;D提高底片对比度。

单选题之所以要把底片黑度范围限制在胶片特性曲线的适当曝光区,是因为在此区域内透照得到的底片()A黑度大B黑度最均匀C几何不清晰度高D对比度最大