砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的传热系数测定中,试件制备好后,应在环境温度(),相对湿度()的不通风室内静置7d。A、(20±3)℃.(60±20)%B、(20±3).℃90%以上C、(20±1)℃.(60±20)%D、(20±1)℃.90%以上

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的传热系数测定中,试件制备好后,应在环境温度(),相对湿度()的不通风室内静置7d。

  • A、(20±3)℃.(60±20)%
  • B、(20±3).℃90%以上
  • C、(20±1)℃.(60±20)%
  • D、(20±1)℃.90%以上

相关考题:

砌筑材料质量评定依据标准有《砌墙砖试验方法》GB/T2542-2003。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准规定了砌墙砖尺寸、外观质量、抗折强度、抗压强度、冻融、体积密度、石灰爆裂、泛霜、吸水率和饱和系数、孔洞及其结构、干燥收缩、碳化、传热系数等的试验方法,但是没规定放射性的试验方法。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准适用于()。A、烧结砖B、非烧结砖C、混凝土小型空心砌块D、蒸压加气混凝土砌块

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准规定了砌墙砖尺寸、外观质量、()、冻融、体积密度、石灰爆裂、泛霜、吸水率和饱和系数、孔洞及其结构、干燥收缩、碳化、传热系数、放射性等的试验方法。 A、抗压强度B、抗折强度C、抗拉强度D、冲击强度

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中空心砖内壁残缺及肋残缺尺寸,以宽度方向的投影尺寸来度量。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中测砖的色差时,装饰面朝上随机分两排并列,在自然光下距离砖样2m处目测。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的干燥收缩试验中,恒温水槽的温度范围为(20±1)℃,干燥箱或调温调湿箱的温度范围为(50±1)℃。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的传热系数测定中,试件制备好后,应在环境温度(20±3)℃,相对湿度(60±20)%的不通风室内静置7d。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中非烧结砖试件不需要养护,可直接切断后进行试验。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中测砖的弯曲时,以弯曲中测得的平均值作为测量结果。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中尺寸测量的量具应为千分尺。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的传热系数测定中,试件厚度为试件的实际使用厚度,试件边长为其厚度的()倍。A、1B、2C、3D、4

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中尺寸测量的量具应为()。A、游标卡尺B、直尺C、卷尺D、砖用卡尺

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中非烧结砖包括()。A、蒸压灰砂砖B、粉煤灰砖C、炉渣砖D、碳化砖

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中规定砖的每个方向尺寸以两个测量值的算术平均值表示,精确至1mm。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的孔洞率测量,称量盲孔砖的悬浸质量时,有孔洞的面朝上。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中抗压强度试验的材料试验机示值相对误差不大于±2%。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中测砖的杂质凸出高度,以杂质距砖面的最大距离表示,测量将砖用卡尺的两支脚置于凸出两边的砖平面上,以垂直尺测量。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中多孔砖的孔洞与裂纹相通时,则将孔洞包括在裂纹内一并测量。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中规定用于石灰爆裂试验的试样为未经雨淋或浸水,且近期生产的砖样。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的吸水率试验饱和系数试验称量沸煮5h的湿质量来进行计算。

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中烧结砖包括()。A、烧结普通砖B、烧结多孔砖C、烧结空心砖和空心砌块D、蒸压灰砂砖

砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中缺损造成的破坏面,系指缺损部分对条、顶面(空心砖为条、大面)的投影面积。

根据GB/T2542-2003《砌墙砖试验方法》规定,简述砖普通外观质量是否合格的判定规则?

GB/T2542-2003《砌墙砖试验方法》中烧结普通砖抗压强度试件的试样制备中普通制样过程?

GB/T2542-2003《砌墙砖试验方法》中规定抗折强度试验中,抗折夹具下支辊的跨距为砖规格长度减去40mm。

问答题GB/T2542-2003《砌墙砖试验方法》中烧结普通砖抗压强度试件的试样制备中普通制样过程?

单选题砌墙砖试验方法(GB/T2542-2003)标准中砖的传热系数测定中,试件厚度为试件的实际使用厚度,试件边长为其厚度的()倍。A1B2C3D4