对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。


相关考题:

高压电源和电子枪应有足够的绝缘和良好的接地。绝缘试验电压应为额定电压的( )。

UPS的电气绝缘性能试验,说法正确的是( )。(A)额定电压60&ltUi≤300时,绝缘电阻测试仪器的电压等级为1kV (B)额定电压300&ltUi≤500时,绝缘电阻测试仪器的电压等级为2kV (C)额定电压60&ltUi≤300时,工频电压为2.0kV (D)额定电压300&ltUi≤500时,冲击电压为10kV

当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。A对B错

于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A升高B降低C基本不变

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而基本不变。A对B错

对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。A对B错

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A对B错

当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。A对B错

电缆的额定电压应按U0/U选择。下面表述正确的是()。A、U0—电缆导体对地的额定工频电压B、U0—电缆导体与绝缘屏蔽层或金属护套之间的额定工频电压C、U—任何两相线之间的额定工频电压D、U—每一导体与绝缘屏蔽层或金属护套之间的基准绝缘水平

当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。

断路器的额定绝缘电压(U1)是制造厂规定的电压值,此值与介电试验电压以及爬电距离有关。除非另有规定,额定绝缘电压是断路器的最大额定电压值,在任何情况下,最大额定电压不应超过额定绝缘电压。

额定电压(U0/U)21/35kV粘性油纸绝缘电缆在做直流耐压试验时,其施加的试验电压为()。A、100kVB、105kVC、110kVD、120kV

电流互感器主绝缘tanδ试验电压为10kV,末屏对地tanδ试验电压为2kV()

当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。

对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。

tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()。A、良好绝缘B、绝缘中存在气隙C、绝缘受潮

对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。

关于电容型电流互感器高压介质损测量,下列说法正确的是()。A、绝缘良好的设备tgδ值不随试验电压的升高而偏大,只在接近额定电压时才略微增加B、绝缘严重受潮的设备在较低的电压下,tgδ值就较大,随着电压的升高tgδ值增大C、发生气隙局放设备达到局放起始放电电压时,tgδ急剧增高D、绝缘中含有离子型杂质的设备,tgδ随电压上升而下降

单选题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A升高B降低C基本不变

判断题对于良好绝缘的Tan6测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A对B错

单选题tanδ测试时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线,则试品属于()A良好绝缘B绝缘中存在气隙C绝缘受潮

单选题于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而()。A升高B降低C基本不变

判断题对于良好绝缘的tanδ测试,在额定电压以下时,随着试验电压U的升高而降低。A对B错

判断题当试品绝缘中存在气隙时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈闭合的环状曲线。A对B错

判断题对于额定电压为35kV及以上的设备,测试tanδ时一般升压至10kV。A对B错

判断题断路器的额定绝缘电压(U1)是制造厂规定的电压值,此值与介电试验电压以及爬电距离有关。除非另有规定,额定绝缘电压是断路器的最大额定电压值,在任何情况下,最大额定电压不应超过额定绝缘电压。A对B错

判断题当试品绝缘受潮时,随着试验电压U的变化,tanδ值呈开口环曲线。A对B错