在激光束光电二极管阵列获得的A+B+C+D是()。

在激光束光电二极管阵列获得的A+B+C+D是()。


相关考题:

高效液相色谱仪的检测器有A、紫外检测器B、质谱检测器C、荧光检测器D、光电二极管阵列检测器E、示差折光检测器

对间接转换型数字平板探测器的分辨率下降关系最小的是()。A.碘化铯的其针状(或称柱状)结构B.闪烁体层制作得较厚C.像素太小D.像素太大E.光电二极管/晶体管阵列放置在闪烁体的射出表面上

关于非晶硅探测器的工作原理,下列正确的是()。A.X线光子→闪烁晶体→可见光→非晶硅光电二极管阵列→电信号→逐行取出,量化为数字信号→X线数字图像B.X线光子→非晶硅光电二极管阵列→闪烁晶体→可见光→电信号→逐行取出,量化为数字信号→X线数字图像C.X线光子→非晶硅光电二极管阵列→可见光→闪烁晶体→电信号→逐行取出,量化为数字信号→X线数字图像D.X线光子→可见光→非晶硅光电二极管阵列→闪烁晶体→电信号→逐行取出,量化为数字信号→X线数字图像E.X线光子→电信号→非晶硅光电二极管阵列→闪烁晶体→可见光→逐行取出,量化为数字信号→X线数字图像

色谱法中,属于质量型检测器的是A.电化学B.质谱C.蒸发光散射D.光电二极管阵列E.紫外

对间接转换型数字平板探测器的分辨率下降关系最小的是()A、碘化铯的其针状(或称柱状)结构B、闪烁体层制作得较厚C、像素太小D、像素太大E、光电二极管/晶体管阵列放置在闪烁体的射出表面上

关于间接转换型平板探测器工作原理的描述,错误的是()A、CSI晶体将X线光子转化为可见光信号B、可见光沿碘化铯针状晶体传递到光电二极管C、光电二极管将光信号变为电信号D、电信号储能在TFT晶体管中E、TFT晶体管阵列顺序读取各像素的信息

激光束经聚焦后,可获得比电子束还高的功率密度。

下列器件属于新型分光光度计检测器的有()A、激光光栅B、光电二极管阵列C、石英比色池D、氩离子激光器

液相色谱中与紫外检测器最相似的检测器是()。A、示差折光检测器B、安培检测器C、光电二极管阵列检测器D、蒸发光散射检测器

关于间接转换型平板探测器结构的描述,错误的是()A、表面电极B、基板层C、光电二极管D、非晶硅TFT阵列E、碘化铯晶体层

在液相色谱中下列哪个检测器是液相使用的()。A、光电二极管阵列检测器B、电子捕获检测器C、热导检测器D、氢火焰检测器

间接转换型平板探测器是一种以()加()光电二极管阵列为核心的X线影像探测器。

在液相色谱中,下列检测器可在获得色谱流出曲线的基础上,同时获得被分离组分的三维彩色图形的是()。A、光电二极管阵列检测器B、示差折光检测器C、荧光检测器D、电化学检测器

光电二极管阵列

由光电二极管二维阵列组成面型传感器进行图像检测,对图像的分辨率由光电二极管的个数决定,试说明理由。

问答题由光电二极管二维阵列组成面型传感器进行图像检测,对图像的分辨率由光电二极管的个数决定,试说明理由。

填空题间接转换型平板探测器是一种以()加()光电二极管阵列为核心的X线影像探测器。

单选题关于间接转换型平板探测器结构的描述,错误的是(  )。A表面电极B基板层C光电二极管D非晶硅TFT阵列E碘化铯晶体层

名词解释题光电二极管阵列紫外检测器

多选题关于间接转换型平板探测器结构的叙述,正确的是(  )。A碘化铯晶体层B非晶硅TFT阵列C光电二极管D行驱动电路E表面电极

名词解释题光电二极管阵列

单选题间接转换型平板探测器的组成不包括(  )。A基板层B光电二极管C非晶硅TFT阵列D碘化铯晶体层E集电矩阵

单选题在液相色谱中下列哪个检测器是液相使用的()。A光电二极管阵列检测器B电子捕获检测器C热导检测器D氢火焰检测器

单选题在液相色谱中,下列检测器可在获得色谱流出曲线的基础上,同时获得被分离组分的三维彩色图形的是()。A光电二极管阵列检测器B示差折光检测器C荧光检测器D电化学检测器

多选题非晶硅平板探测器的结构包括(  )。A保护层B碘化铯闪烁体层C非晶硅光电二极管阵列D行驱动电路E图像信号读取电路

单选题非晶硅平板探测器基本结构为(  )。A碘化铯闪烁体层、硒层和集点矩阵层、行驱动电路、图像信号读取电路B碘化铯闪烁体层、非晶硅光电二极管阵列、行驱动电路、图像信号读取电路C硒层、非晶硅光电二极管阵列、行驱动电路、图像信号读取电路D非晶硅层、非晶硅光电二极管阵列、行驱动电路、图像信号读取电路E碘化铯闪烁体层、非晶硅光电二极管阵列、硒层和集点矩阵层、图像信号读取电路

单选题下列器件属于新型分光光度计检测器的有()A激光光栅B光电二极管阵列C石英比色池D氩离子激光器