用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。 A、0.9μmB、0C、1.8μm
用平面平晶检定量具表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度相等的地方,这种现象称为()。 A、球面干涉B、等厚干涉C、等倾干涉
用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A、0.9μmB、0C、1.8μm
用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
用平面平晶检查平面度时，如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时，其平面度是（）。A、0.9μmB、0C、0.3μm
测量平面度误差时，常将平面平晶工作面贴在被测表面上，并稍加压力，就会有干涉条纹出现。干涉条纹越多，则平面度误差（）。
被测平面出现弯曲的干涉条纹时，当切线与三条干涉条纹相交，其平面度偏差为（）。A、0.29微米B、0.58微米C、0.72微米D、0.87微米
外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A、光波法B、光干涉法C、光条纹法D、干涉条纹法
用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A、中凹B、中凸C、平面D、波形
检定千分表工作面的平面度用二级平晶用技术光波干涉法检定。
在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A、0.001mmB、0.002mmC、0.003mm
用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A、球面干涉B、等倾干涉C、等厚干涉
检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？
用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。A、干涉条纹尽量少B、2条或4条C、3条或5条
用等厚干涉测量平直度时，两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为（）。A、1／2入B、入
单选题用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
单选题用平面平晶检查平面度时，如出现三条直的且相互平行而等间隔的干涉条纹时，其平面度是（）。A0.9μmB0C0.3μm
单选题迈克尔孙干涉仪的两块平面反射镜互相垂直时，从该干涉仪中观察到的干涉图样是一组同心圆圈，他们是（）A内圈的干涉级数高于外圈的等厚干涉条纹B内圈的干涉级数低于外圈的等厚干涉条纹C内圈的干涉级数高于外圈的等倾干涉条纹D内圈的干涉级数低于外圈的等倾干涉条纹
单选题用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A球面干涉B等厚干涉C等倾干涉
单选题用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A球面干涉B等倾干涉C等厚干涉
单选题用平晶检定千分尺工作面时，如干涉条纹向内跑即为（）A中凹B中凸C平面D波形
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A0.9μmB0C1.8μm
单选题用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。A0.9μmB0C1.8μm
问答题检定千分尺测量面平面度时，初学人员用平面平晶往往在测量面上产生不了干涉条纹，主要原因是什么？
单选题外径千分尺平面度用二级平晶按（）检定A光波法B光干涉法C光条纹法D干涉条纹法
单选题用等厚干涉测量平直度时，两条相邻干涉条纹所对应的空气隙厚度差为（）。A1／2入B入