填空题进行多次测量是为了()和()。

填空题
进行多次测量是为了()和()。

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相关考题:

进行多次测量是为了()和()。

测量结果的重复性是指在相同测量条件下对同一被测量进行()测量所得结果之间的一致性。 A.连续多次B.多次重复C.单次D.多次间断

重复地层测试器(RFT)一次下井可进行()高精度压力测量,并能取得()流体样品,一次测量可在2~3h完成。 A、多次;2个B、多次;3个C、多次;4个D、2次;3个

准确度是反映对同一被测量进行多次测量,测量值偏离被测量真值的程度。() 此题为判断题(对,错)。

在物理实验中,很多时候都需要对相关物理量进行多次测量,其中有的是为了通过多次测量寻找规律,有的是为了通过多次测量提高精度。下面四个实验中哪些是通过多次测量寻找规律的:①用刻度尺多次测量某一物体的长度;②在做“探究凸透镜成像”实验时,多次改变物距观察成像情况;③研究杠杆平衡条件时多次调节钩码的个数及位置;④在做“伏安法测电阻”实验时,调节滑动变阻器,测量对应的多组数据。( )。A.①②B.②③C.③④D.①④

依据GB/T19001-2008标准的要求,以下说法正确的是()。A、过程的监视和测量是为了证实产品质量满足要求B、过程的监视和测量是为了证实过程实现策划的结果的能力C、过程的监视和测量是为了证实过程的符合性D、过程的监视和测量是对质量管理体系过程进行的监视和测量

运营管理理阶段的测量工作主要是指工程竣工后为监视工程的状况和保证安全所进行的(),即变形测量。A、一次性测量B、多次测量C、周期性重复测量D、重复测量

钢尺的刻度可能不够均匀,在测量时要选取不同起点进行多次测量,然后取()。

所谓测量系统的偏倚(Bias)是指:()A、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的波动大小B、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的均值与参考标准值的差值C、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的稳定性D、测量系统的RR

在精密测量中,对同一被测几何量作多次重复测量,其目的是为了减小()对测量结果的影响。A、随机误差B、系统误差C、相对误差D、绝对误差

贯通测量中,采用两井进行定向测量是为了提高地下导线的定向精度。

对于同一被测值进行多次测量,若测量结果偶然误差大,则应该()A、改变测量方法B、增加测量次数C、更换测量工具

在等精度精密测量中多次重复测量同一量值是为了减小()A、系统误差B、随机误差C、粗大误差D、绝对误差

若在同一条件下,对某个变量X进行多次测量,某一次测量的值位Xi取其算数平均值作为多次测量结果的最佳值。

测量结果的重复性是指在相同测量条件下,对同一被测量进行()测量所得结果之间的一致性。A、连续多次B、多次重复C、单次D、多次间断

在相同测量条件下,对同一被测量进行连续多次测量所得结果之间的一致性称为()性。

基准值:是用更高等级的测量设备进行多次测量所取的一个平均值。

在整个测量过程中,如果影响和决定误差大小的全部因素(条件)始终保持不变,对同一被测量进行多次重复测量,这样的测量称为()。A、组合测量B、静态测量C、等精度测量D、零位式测量

测量()是指在规定条件下对被测量进行多次测量时,所得结果之间符合的程度。

单选题在测量计量温度时,取其多次测量结果的算术平均值作为最终测得值,其目的是为了减少或消除测量的()误差。A装置误差B环境误差C随机误差D方法误差

填空题测量()是指在规定条件下对被测量进行多次测量时,所得结果之间符合的程度。

多选题依据GB/T19001-2008标准的要求,以下说法正确的是()。A过程的监视和测量是为了证实产品质量满足要求B过程的监视和测量是为了证实过程实现策划的结果的能力C过程的监视和测量是为了证实过程的符合性D过程的监视和测量是对质量管理体系过程进行的监视和测量

填空题表示测量误差通常可用()误差和()误差,在衡量对同一被测量进行的多次测量中,哪次测量结果更准确些,可用()误差;而在衡量对不同值的被测量所进行的测量中,哪个结果更准确些,可用()误差。

单选题所谓测量系统的偏倚(Bias)是指:()A采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的波动大小B采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的均值与参考标准值的差值C采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的稳定性D测量系统的RR

判断题贯通测量中,采用两井进行定向测量是为了提高地下导线的定向精度。A对B错

单选题运营管理理阶段的测量工作主要是指工程竣工后为监视工程的状况和保证安全所进行的(),即变形测量。A一次性测量B多次测量C周期性重复测量D重复测量

单选题在整个测量过程中,如果影响和决定误差大小的全部因素(条件)始终保持不变,对同一被测量进行多次重复测量,这样的测量称为()A组合测量B静态测量C等精度测量D零位式测量