所谓测量系统的偏倚（Bias）是指：（）A、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的波动大小B、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的均值与参考标准值的差值C、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的稳定性D、测量系统的RR
所谓测量系统的偏倚（Bias）是指：（）
- A、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的波动大小
- B、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的均值与参考标准值的差值
- C、采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的稳定性
- D、测量系统的R&R
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关于测量系统的线性研究，以下说法正确的是（）A、测量系统的线性指量具在量程的任何一处不存在偏倚B、测量系统的线性指其计量特性随时间保持恒定的能力C、测量系统的线性指其偏倚在量程范围内呈线性程度D、以上说法都不正确
入院率偏倚又可以称为（）。A、奈曼偏倚（Neyman bias）B、检出偏倚（detection bias）C、泥杂偏倚（confounding bias）D、信息偏倚（information bias）E、伯克森偏倚（Berkson＇s bias）
某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前，计量部门的人说，该设备定期进行校准，不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系，正确的是（）A、定期校准可以保证测量系统的有效性，因此不必专门进行测量系统分析B、校准可以消除或减少测量系统的偏倚（bias）C、定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D、定期进行GRR研究不能代替定期校准
多选题某六西格玛团队在测量阶段对某关键检测设备进行测量系统分析前，计量部门的人说，该设备定期进行校准，不必再进行测量系统分析。有关设备校准和测量系统分析之间的关系，正确的是（）A定期校准可以保证测量系统的有效性，因此不必专门进行测量系统分析B校准可以消除或减少测量系统的偏倚（bias）C定期进行GRR研究一般可以代替定期校准D定期进行GRR研究不能代替定期校准
单选题入院率偏倚又可以称为（）。A奈曼偏倚（Neyman bias）B检出偏倚（detection bias）C泥杂偏倚（confounding bias）D信息偏倚（information bias）E伯克森偏倚（Berkson＇s bias）
单选题所谓测量系统的偏倚（Bias）是指：（）A采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的波动大小B采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的均值与参考标准值的差值C采用某测量系统对已知标准值的参考对象进行多次测量时的稳定性D测量系统的RR
单选题入院率偏倚又可称（ ）。A奈曼偏倚（Neyman bias）B检出偏倚（detection bias）C混杂偏倚（Confounding bias）D信息偏倚（information bias）E伯克森偏倚（Berkson＇s bias）
单选题关于测量系统的线性研究，以下说法正确的是（）A测量系统的线性指量具在量程的任何一处不存在偏倚B测量系统的线性指其计量特性随时间保持恒定的能力C测量系统的线性指其偏倚在量程范围内呈线性程度D以上说法都不正确