单选题减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是()A在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器;B在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器;C增大放大器的通带宽度;D采用阻抗试验方法.

单选题
减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是()
A

在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器;

B

在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器;

C

增大放大器的通带宽度;

D

采用阻抗试验方法.


参考解析

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相关考题:

利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作( )。 AMTBPTCUTDRT

下列哪一条不适用于所有的渗透检测方法()。A、渗透液必须渗入缺陷中以形成显示B、在黑光照射下,显示发光C、表面细小缺陷需要较长的渗透时间D、如果将缺陷中的渗透液去除掉,便不会产生显示

减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是()A、在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器;B、在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器;C、增大放大器的通带宽度;D、采用阻抗试验方法.

相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的,非相关显示不是由漏磁场产生的。

露出表面的缺陷产生的显示:()A、清晰和明显B、宽而不清晰C、转折交错D、高和模糊

显像剂显示的缺陷图象尺寸比缺陷真实尺寸要小。

如果可见的栅格间距设置得太小,AutoCAD将出现()提示。A、不接受命令B、产生【栅格太密无法显示】信息C、产生错误显示D、自动调整栅格尺寸使其显示出来

磁粉探伤是根据漏磁场原理而达到()缺陷的目的。A、弥补B、减小C、显示D、修复

渗透检测产生的显示,通常与形成这个显示的缺欠尺寸和形状特征不同。

表面缺陷一般会产生尖锐、清晰的图像显示,但()缺陷产生的图像显示则不如表面开口缺陷清晰

缺陷尺寸的精确估计()A、与显示的浓淡有关B、与显示的宽窄有关C、与显示形成的速度有关D、没有一定方法能达到精确估计

下列关于超标缺陷磁痕显示处理的方法中,正确的说法是()。A、一旦发现超标缺陷磁痕显示,就应进行打磨清除B、打磨后的缺陷应及时进行补焊,以防焊接应力产生新的缺陷C、对发现的超标缺陷清除后,还应用磁粉方法进行复检D、超标缺陷清楚前应进行退磁,以防焊接过程中产生新的缺陷

一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

一般把最大尺寸与最小尺寸之比大于3的缺陷显示称为()A、圆形显示B、线形显示C、椭圆显示D、不规则显示

当磁场方向与缺陷延伸方向平行时(),发现不了缺陷。A、产生强磁痕显示B、产生弱磁痕显示C、不产生磁痕显示D、模糊的磁痕显示

厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的()。

磁力线与缺陷的破裂面()不产生磁痕显示。

利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

判断题相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的,非相关显示不是由漏磁场产生的。A对B错

单选题露出表面的缺陷产生的显示:()A清晰和明显B宽而不清晰C转折交错D高和模糊

单选题下列哪一条不适用于所有的渗透检测方法()。A渗透液必须渗入缺陷中以形成显示B在黑光照射下,显示发光C表面细小缺陷需要较长的渗透时间D如果将缺陷中的渗透液去除掉,便不会产生显示

填空题利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

单选题一般把最大尺寸与最小尺寸之比大于3的缺陷显示称为()A圆形显示B线形显示C椭圆显示D不规则显示

判断题渗透检测产生的显示,通常与形成这个显示的缺欠尺寸和形状特征不同。A对B错

填空题一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

填空题表面缺陷一般会产生尖锐、清晰的图像显示,但()缺陷产生的图像显示则不如表面开口缺陷清晰

单选题当磁场方向与缺陷延伸方向平行时(),发现不了缺陷。A产生强磁痕显示B产生弱磁痕显示C不产生磁痕显示D模糊的磁痕显示

单选题下列关于超标缺陷磁痕显示处理的方法中,正确的说法是()。A一旦发现超标缺陷磁痕显示,就应进行打磨清除B打磨后的缺陷应及时进行补焊,以防焊接应力产生新的缺陷C对发现的超标缺陷清除后,还应用磁粉方法进行复检D超标缺陷清楚前应进行退磁,以防焊接过程中产生新的缺陷