填空题利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

填空题
利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

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相关考题:

磁粉探伤法主要是利用铁磁材料表面缺陷处形成()吸引磁粉进行探伤的。A.超声场B.漏磁场C.涡流D.电场

利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作( )。 AMTBPTCUTDRT

磁粉探伤无法探测零件内部缺陷的原因是______。 A.漏磁磁场的强度太弱B.磁力线无法溢出零件表面形成漏磁场C.零件内部无磁力线D.磁力线与缺陷平行

磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时,当零件在磁场中磁化后会产生______来探测缺陷。 A.磁力线B.涡流C.漏磁场D.次级磁场

磁粉探伤是利用缺陷处漏磁场与磁粉相互作用的原理,检测铁磁性材料()缺陷的一种无损检测方法。

下列有关磁粉探伤用的设备装置的叙述()是正确的A、用线圈法磁化时,线圈的形状与磁场强度无关B、喷咀喷洒磁悬液时的压力对缺陷磁痕的形成有很大影响C、交流磁化装置不易发现表面缺陷,但能发现近表面缺陷

关于磁痕显示的叙述,正确的是()A、非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的B、表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰C、近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲D、以上都不对

磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时,当零件在磁场中磁化后会产生()来探测缺陷。A、磁力线B、涡流C、漏磁场D、次级磁场

磁粉探伤无法探测零件内部缺陷的原因是()。A、漏磁磁场的强度太弱B、磁力线无法溢出零件表面形成漏磁场C、零件内部无磁力线D、磁力线与缺陷平行

磁粉检测是利用()发现材料(工件)表面和近表面的不连续性的。A、漏磁B、合适的检测介质C、漏磁和合适的检测介质D、磁粉

磁粉探伤法只能检查铁磁性材料的表面及近表面位置缺陷

磁粉检测是利用铁磁性材料表面的漏磁场吸附磁粉,来显示不连续性的()。A、位置B、大小C、形状D、严重程度E、以上全是

磁粉探伤是一种利用由缺陷产生的漏磁场对磁粉吸引现象为基本原理的无损检测方法,这种方法可用于:()。A、检测非铁磁性材料表面和近表面缺陷B、检测铁磁性材料表面和近表面缺陷C、检测铁磁性材料内部缺陷D、各种不同材料的分选

如果钢件的表面或近表面上有缺陷,磁化后,磁粉是被()吸引到缺陷上的。A、 摩擦力B、 矫顽力C、 漏磁场D、 静电场

磁粉检测适用于检测铁磁性材料制工件的表面、近表面缺陷

磁粉探伤是利用缺陷部位所形成的漏磁场吸附磁粉从而显示缺陷的方法。

磁粉探伤中,工件中缺陷与漏磁场方向垂直时漏磁场强度最大。

磁粉探伤法主要是利用铁磁材料表面缺陷处形成()吸引磁粉进行探伤的。A、超声场B、漏磁场C、涡流D、电场

利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

判断题磁粉探伤是利用缺陷部位所形成的漏磁场吸附磁粉从而显示缺陷的方法。A对B错

单选题磁粉探伤是基于零件表面或近表面存在缺陷时,当零件在磁场中磁化后会()来探测缺陷。A磁力线B涡流C漏磁场D次级磁场

单选题下列有关磁粉探伤用的设备装置的叙述()是正确的A用线圈法磁化时,线圈的形状与磁场强度无关B喷咀喷洒磁悬液时的压力对缺陷磁痕的形成有很大影响C交流磁化装置不易发现表面缺陷,但能发现近表面缺陷

单选题磁粉检测是利用铁磁性材料表面的漏磁场吸附磁粉,来显示不连续性的()。A位置B大小C形状D严重程度E以上全是

单选题磁粉探伤法主要是利用铁磁材料表面缺陷处形成()吸引磁粉进行探伤的。A超声场B漏磁场C涡流D电场

填空题磁粉探伤是利用缺陷处漏磁场与磁粉相互作用的原理,检测铁磁性材料()缺陷的一种无损检测方法。

单选题磁粉检测是利用()发现材料(工件)表面和近表面的不连续性的。A漏磁B合适的检测介质C漏磁和合适的检测介质D磁粉

单选题关于磁痕显示的叙述,正确的是()A非相关显示不是由漏磁场吸附磁粉磁粉形成的B表面缺陷磁痕一般宽而模糊、轮廓不清晰C近表面缺陷磁痕一般浓密清晰、瘦直或弯曲D以上都不对