减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是()A、在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器;B、在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器;C、增大放大器的通带宽度;D、采用阻抗试验方法.

减小尺寸逐渐变化产生的显示而保留缺陷产生的显示的一种方法是()

  • A、在涡流试验仪器中加入一个高通滤波器;
  • B、在涡流试验仪器中加入一个低通滤波器;
  • C、增大放大器的通带宽度;
  • D、采用阻抗试验方法.

相关考题:

利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作( )。 AMTBPTCUTDRT

下列哪一条不适用于所有的渗透检测方法()。A、渗透液必须渗入缺陷中以形成显示B、在黑光照射下,显示发光C、表面细小缺陷需要较长的渗透时间D、如果将缺陷中的渗透液去除掉,便不会产生显示

相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的,非相关显示不是由漏磁场产生的。

露出表面的缺陷产生的显示:()A、清晰和明显B、宽而不清晰C、转折交错D、高和模糊

显像剂显示的缺陷图象尺寸比缺陷真实尺寸要小。

如果可见的栅格间距设置得太小,AutoCAD将出现()提示。A、不接受命令B、产生【栅格太密无法显示】信息C、产生错误显示D、自动调整栅格尺寸使其显示出来

磁粉探伤是根据漏磁场原理而达到()缺陷的目的。A、弥补B、减小C、显示D、修复

渗透检测产生的显示,通常与形成这个显示的缺欠尺寸和形状特征不同。

表面缺陷一般会产生尖锐、清晰的图像显示,但()缺陷产生的图像显示则不如表面开口缺陷清晰

缺陷尺寸的精确估计()A、与显示的浓淡有关B、与显示的宽窄有关C、与显示形成的速度有关D、没有一定方法能达到精确估计

下列关于超标缺陷磁痕显示处理的方法中,正确的说法是()。A、一旦发现超标缺陷磁痕显示,就应进行打磨清除B、打磨后的缺陷应及时进行补焊,以防焊接应力产生新的缺陷C、对发现的超标缺陷清除后,还应用磁粉方法进行复检D、超标缺陷清楚前应进行退磁,以防焊接过程中产生新的缺陷

一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

一般把最大尺寸与最小尺寸之比大于3的缺陷显示称为()A、圆形显示B、线形显示C、椭圆显示D、不规则显示

当磁场方向与缺陷延伸方向平行时(),发现不了缺陷。A、产生强磁痕显示B、产生弱磁痕显示C、不产生磁痕显示D、模糊的磁痕显示

厚度逐渐变化的缺陷要比厚度突变的缺陷在底片上产生的()。

磁力线与缺陷的破裂面()不产生磁痕显示。

利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

判断题相关显示是由缺陷产生的漏磁场吸附磁粉形成的,非相关显示不是由漏磁场产生的。A对B错

单选题露出表面的缺陷产生的显示:()A清晰和明显B宽而不清晰C转折交错D高和模糊

单选题下列哪一条不适用于所有的渗透检测方法()。A渗透液必须渗入缺陷中以形成显示B在黑光照射下,显示发光C表面细小缺陷需要较长的渗透时间D如果将缺陷中的渗透液去除掉,便不会产生显示

填空题利用铁磁性材料表面与近表面缺陷会引起磁率发生变化,磁化时在表面上产生漏磁场,并采用磁粉、磁带或其他磁场测量方法来记录与显示缺陷的方法叫作()。

单选题一般把最大尺寸与最小尺寸之比大于3的缺陷显示称为()A圆形显示B线形显示C椭圆显示D不规则显示

判断题渗透检测产生的显示,通常与形成这个显示的缺欠尺寸和形状特征不同。A对B错

填空题一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

填空题表面缺陷一般会产生尖锐、清晰的图像显示,但()缺陷产生的图像显示则不如表面开口缺陷清晰

单选题当磁场方向与缺陷延伸方向平行时(),发现不了缺陷。A产生强磁痕显示B产生弱磁痕显示C不产生磁痕显示D模糊的磁痕显示

单选题下列关于超标缺陷磁痕显示处理的方法中,正确的说法是()。A一旦发现超标缺陷磁痕显示,就应进行打磨清除B打磨后的缺陷应及时进行补焊,以防焊接应力产生新的缺陷C对发现的超标缺陷清除后,还应用磁粉方法进行复检D超标缺陷清楚前应进行退磁,以防焊接过程中产生新的缺陷