一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().


相关考题:

RT、UT主要用于检测试件内部缺陷,MT、PT主要用于检测试件表面缺陷。此题为判断题(对,错)。

无损检测中,关于磁粉探伤特点的正确表述为( )。A.操作容易.检验迅速.探伤灵敏度较低B.受到试件大小和形状的限制C.可以检测材料和构件的表面和近表面缺陷D.试件表面的油脂不对磁粉探伤产生影响

芯样试件表面有裂缝或有其他较大缺陷、芯样试件内含有钢筋、芯样试件平均直径大于2倍表观混凝土粗骨料最大粒径时,均不能作为抗压试件。

渗透检测用于()。A、检查和评定试件中的各种缺陷B、检查和确定试件中缺陷的长度,宽度和深度C、确定试件的抗拉强度D、检查表面开口的缺陷

渗透检测用于检测表面开口缺陷,几乎适用于所有材质的试件和各种形状表面

沥青防水卷材低温柔性以下的判定()是合格的。A、上表面五个试件均无裂缝,下表面试件五个均无裂缝B、上表面五个试件有两个有裂缝,下表面五个试件均无裂缝C、上表面五个试件有一个有裂缝,下表面五个试件有一个试件有裂缝D、上表面五个试件有一个试件有裂缝,下表面五个试件有两个试件有裂缝

磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

对渗透显示的分辨力有影响的因素是()。A、使用渗透材料系统的灵敏度B、试件表面状态C、试件和或渗透液的温度D、以上都有影响

磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用交流电流磁化试件

下面叙述的句子中正确的是()A、渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,不管什么缺陷度能探出B、渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,有时不能探出C、渗透探伤除了被检工件表面之外,对内部缺陷也能探出

下列关于漏磁场的叙述,正确的是()。A、内部缺陷处的漏磁场比同样大小的表面缺陷漏磁场大B、缺陷的漏磁场通常与试件上的磁场强度成反比C、表面缺陷的漏磁场,随离开表面的距离增大而急剧下降D、有缺陷的试件,才会产生漏磁场

渗透检测前试件予清洗是()。A、不需要的B、很重要的,因为如果试件不干净,就不能正确地施加显像剂C、必需的,因为表面污染可能阻止渗透液渗入缺陷中D、为了防止产生不相关显示

()是指施加于探头和试件表面之间,使超声能量传入试件的液态介质。A、 耦合剂B、 探头线C、 仪器D、 缺陷

下列有关漏磁通的叙述正确的是()。A、内部缺陷处的漏磁通,比同样大小的表面缺陷为大B、缺陷的漏磁通通常同试件上的磁通密度成反比C、表面缺陷的漏磁通密度,随着离开表面距离的增加而急剧减弱D、用有限线圈磁化长的试件,不需进行分段磁化

磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷

磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

多选题沥青防水卷材低温柔性以下的判定()是合格的。A上表面五个试件均无裂缝,下表面试件五个均无裂缝B上表面五个试件有两个有裂缝,下表面五个试件均无裂缝C上表面五个试件有一个有裂缝,下表面五个试件有一个试件有裂缝D上表面五个试件有一个试件有裂缝,下表面五个试件有两个试件有裂缝

单选题下列关于漏磁场的叙述,正确的是:()A内部缺陷处的漏磁场比同样大小的表面缺陷漏磁场大B缺陷的漏磁场通常与试件上的磁场强度成反比C表面缺陷的漏磁场,随离开表面的距离增大而急剧下降D有缺陷的试件,才会产生漏磁场

单选题下面叙述的句子中正确的是()A渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,不管什么缺陷度能探出B渗透探伤对试件表面上的开口缺陷,有时不能探出C渗透探伤除了被检工件表面之外,对内部缺陷也能探出

单选题渗透检测用于()。A检查和评定试件中的各种缺陷B检查和确定试件中缺陷的长度,宽度和深度C确定试件的抗拉强度D检查表面开口的缺陷

单选题渗透检测前试件予清洗是()。A不需要的B很重要的,因为如果试件不干净,就不能正确地施加显像剂C必需的,因为表面污染可能阻止渗透液渗入缺陷中D为了防止产生不相关显示

单选题对渗透显示的分辨力有影响的因素是()。A使用渗透材料系统的灵敏度B试件表面状态C试件和或渗透液的温度D以上都有影响

填空题一般说来,试件表面状态例如表面缺陷,产生的显示是()成分,试件尺寸及材质变化产生的显示是().

填空题磁粉探伤中,为有效地检出试件表面缺陷,宜采用()电流磁化试件;为了有效地检出近表面缺陷,宜采用()电流磁化试件

填空题磁粉探伤中为了有效地检出试件的表面缺陷,宜采用()电流磁化试件。

单选题渗透检测是一种非破坏性检验方法,这种方法可用于()A检测和评定试件中的各种缺陷B检测和评定试样表面开口缺陷的长度和深度C确定试样表面开口缺陷的长度和宽度D检测试件表面的开口缺陷

判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷,而不能探测近表面缺陷。A对B错