可靠性试验一般分为工程试验和统计试验，下述属于工程试验的是( )。A．环境应力筛选试验B．可靠性鉴定试验C．产品性能试验D．可靠性验收试验E．可靠性增长试验
可靠性鉴定试验是一种( )。A．工程试验B．性能试验C．统计试验D．环境试验
可靠性鉴定试验是一种( )试验。A．工程试验B．性能试验C．统计试验D．环境试验
可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验。工程试验包括( )、可靠性增长试验。A．环境应力筛选试验B．可靠性鉴定试验C．可靠性测定试验D．可靠性验收试验
为暴露产品薄弱环节，并证明改进措施防止薄弱环节再现，在规定的环境应力下进行的试验是( )。A．可靠性鉴定试验B．可靠性增长试验C．加速寿命试验D．可靠性测定试验
可靠性试验一般可分为工程试验和统计试验，统计试验包括( )。A．环境应力试验B．可靠性增长试验C．可靠性鉴定试验D．可靠性验收试验E．可靠性测定试验
可靠性验收试验要求与可靠性鉴定试验的()相同A、试验方案B、样本量C、试验样品D、综合试验环境
可靠性试验可分为工程试验和( )。A．统计试验B．可靠性鉴定试验C．可靠性验收试验D．可靠性增长试验
可用于剔除不良元器件，减少早期故障的可靠性试验是( )A.可靠性增长试验 B.环境应力筛选试验C.可靠性测定试验 D.可靠性鉴定试验
可靠性鉴定试验的目的是( )。A.验证所研发产品可靠性是否满足规定的可靠性要求B.为可靠性增长试验服务 C.为环境应力筛选作准备D.为加速寿命试验提供依据
寿命试验的用途有（）。A、可靠性测定B、可靠性验证C、可靠性鉴定D、可靠性描述
可靠性鉴定试验是一种（）试验A、工程试验B、性能试验C、统计试验D、环境试验
（）的目的是为了暴露产品设计、工艺、元器件、原材料等方面存在的缺陷、薄弱环节和故障，为提高产品可靠性提供信息。A、验收试验B、鉴定试验C、统计试验D、工程试验
关于可靠性鉴定试验的错误说法是（）。A、是验证产品的设计是否达到了规定的可靠性要求所做的试验。B、是产品可靠性的确认试验。C、属于验证试验，不是统计试验。D、是研发产品进入量产前的一种验证试验。
可靠性鉴定试验的目的是识别有关维修性的设计缺陷，使维修性不断增长，验证产品是否维修性要求。
半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）A、可靠性测定试B、可靠性鉴定试验C、可靠性验收实验D、环境应力筛选试验
可靠性增长试验的相关问题有（）。A、可靠性增长试验的适用范围B、可靠性增长试验对受试产品的要求C、可靠性增长试验的选择D、可靠性增长试验与可靠性增长试验与可靠性鉴定试验的关系E、可靠性增长试验的随机性
单选题为暴露产品薄弱环节，并证明改进措施防止薄弱环节再现，在规定的环境应力下进行的试验是（ ）。A可靠性鉴定试验B可靠性增长试验C加速寿命试验D可靠性测定试验
单选题可靠性鉴定试验是一种( )试验。A工程试验B性能试验C统计试验D环境试验
单选题可靠性试验可分为工程试验和（ ）。A统计试验B可靠性鉴定试验C可靠性验收试验D可靠性增长试验
单选题可靠性鉴定试验的目的是（ ）。A为了验证开发的产品的可靠性是否与规定的可靠性要求一致B为环境应力筛选试验作准备C为进行可靠性增长试验服务D对可靠性验收试验进行鉴定
多选题可靠性试验一般分为工程试验和统计试验，下述属于工程试验的是( )。A环境应力筛选试验B可靠性鉴定试验C产品性能试验D可靠性验收试验E可靠性增长试验
单选题可靠性鉴定试验是一种（ ）。A工程试验B性能试验C统计试验D环境试验
单选题半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于（）A可靠性测定试验B可靠性鉴定试验C可靠性验收实验D环境应力筛选试验
多选题可开展的可靠性试验包括（ ）。A产品功能试验B环境应力筛选试验C可靠性增长试验D可靠性鉴定试验
多选题寿命试验的用途有（）。A可靠性测定B可靠性验证C可靠性鉴定D可靠性描述