单选题电焊焊道射线检测中,焊冠及背面套板不能磨平时,在像质计下面应置何物?()A铅增感屏B铅字C与被照物相同射线吸收系数材料的垫片D以上都是

单选题
电焊焊道射线检测中,焊冠及背面套板不能磨平时,在像质计下面应置何物?()
A

铅增感屏

B

铅字

C

与被照物相同射线吸收系数材料的垫片

D

以上都是


参考解析

解析: 暂无解析

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按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》规定,单壁透照中,如果像质计无法放在源侧而放在胶片侧时,应在像质计适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记的影像应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告上注明。()

按照JB/T 4730.2-2005《承压设备无损检测 第2部分:射线检测》的规定,小径管可选用通用线型像质计,也可选用专用(等径金属丝)像质计。()

电焊焊道射线检测中,焊冠及背面套板不能磨平时,在像质计下面应置何物?()A、铅增感屏B、铅字C、与被照物相同射线吸收系数材料的垫片D、以上都是

禁止在焊机上放置任何物件和(),启动电焊机前,焊钳与焊件不能()。

阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A、阶梯孔型像质计更灵敏些B、丝型像质计更灵敏些C、两者灵敏性相同D、以上都不是

使用孔洞型像质计作焊缝射线检测时应加垫片,其作用为()A、改善像质计影像B、降低电子发射C、模拟焊缝的补强高度D、增强影像

下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A、像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B、像质计形状与尺寸都是已知的C、像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D、像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较

为便于操作和保证背面焊道的质量,打底焊时,应()。

以下有关放置像质计的说法正确的是()A、原则上每一张射线底片都应放置像质计B、周向曝光技术中,在至少每隔120º的位置上放置一个像质计C、像质计一般放在射线底片的两端,像质计最细的金属丝应靠近端头处D、以上都对

工业射线照相用的像质计大致有()A、金属丝型像质计B、孔型像质计C、槽型像质计D、以上都是

射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A、射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B、射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C、对所有像质计统一规定的像质指数D、以上都不是

下面关于像质计的叙述中,正确的是()A、各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B、各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C、用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D、以上都不对

以下有关对比试验的说法正确的是()A、像质计应放置在近射线源一侧的工件表面B、如因工件形状的关系像质计只能放在近胶片一侧工件表面时,可通过对比试验进行修正C、像质计应横跨焊缝放置D、以上都对

射线源和胶片处于工件两面,透照时的像质计应如何放置?为什么?

射线照相法是利用X、γ射线穿透工件,以()作为记录信息的无损检测方法。A、像质计B、胶片C、评定尺D、增感屏

在下列叙述中,与JB/T4730.2-2005标准规定符合的是:()A、双壁单影透照像质计放置在胶片侧B、当像质计放置在胶片侧时,应在像质计上适当位置放置铅字“F”作为标记,“F”标记影象应与像质计的标记同时出现在底片上,且应在检测报告中注明C、单壁透照时允许像质计放置在胶片侧,但必须进行对比试验D、当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,至少在第一条、中间一条和最后一条焊接接头处各放一个置像质计

多层焊时,在施焊后续焊道之前,其相邻焊道应保持的最低温度叫()。

单面坡口接焊时,焊完坡口焊缝后,将焊缝背面清根,然后再焊接的一条焊道叫()。A、根部焊道B、打底焊道C、封底焊道D、退火焊道

单选题工业射线照相用的像质计大致有()A金属丝型像质计B孔型像质计C槽型像质计D以上都是

单选题射线照相灵敏度的绝对灵敏度就是()A射线照片上可发现的最小缺陷尺寸B射线照片上可识别的像质计最小细节尺寸C对所有像质计统一规定的像质指数D以上都不是

问答题在射线检测诊断中像质计的作用是什么?

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单选题下面关于像质计的叙述中,正确的是()A各种像质计设计了自己特定的结构和细节形式,规定了自己的测定射线照相灵敏度的方法,它们之间不能简单换算B各种像质计有自己特定的结构和细节形式,但它们测定射线照相灵敏度的方法是相同或相似的C用不同像质计得到的射线照相灵敏度值如果相同,就意味着射线照片的影像质量相同D以上都不对

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问答题在射线检测诊断中最广泛使用的像质计是哪三种?

单选题阶梯孔型像质计在显示射线照相技术变化对影像质量的影响方面和丝型像质计相比()A阶梯孔型像质计更灵敏些B丝型像质计更灵敏些C两者灵敏性相同D以上都不是

单选题下述有关像质计特质的叙述中,不正确的是()A像质计材质和试件有相当的射线吸收系数B像质计形状与尺寸都是已知的C像质计和试件一起成像,而用来鉴定试件品质的重要工具D像质计并不直接用来和缺陷尺寸相比较