对照试验可以校正由仪器不精密所造成的误差。

对照试验可以校正由仪器不精密所造成的误差。


相关考题:

可以减少偶然误差的方法是() A、进行仪器校正B、作对照试验C、作空白试验D、增加平行测定次数

仪器不准确产生的误差采用()来消除。 A、校正仪器B、对照试验C、空白试验D、回收率试验

用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差。此题为判断题(对,错)。

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A.多次平行测定B.二次平行试验C.校正仪器D.滴定试验

仪器误差可以用对照试验的方法来校正。此题为判断题(对,错)。

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是( )A.系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B.系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C.仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D.重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

仪器不准确产生的误差常采用()来消除。A.校正仪器B.对照试验C.空白试验D.回收率试验

系统误差可以用( )、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A.对照试验B.滴定试验C.多次平行测定D.二次平行测定

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A.对照分析B.空白试验C.增加平行试验D.校正仪器

下列关于减少系统误差所采用的方法中,错误的是( )A.标准方法对照法B.校正仪器C.空白试验D.对照试验E.多次平行测定取平均值

试剂和器皿带进杂质所造成的误差可用()消除。A对照试验B空白试验C校正试验

仪器误差可以用对照试验的方法来校正

用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差

下列有关于系统误差产生原因说法不正确的是()A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、仪器本身精密不够或未经校正不会引起系统误差D、重量分析中,由于沉淀的溶解或因吸附某些杂质亦可产生系统误差

下列关于系统误差产生原因说法不正确的是()。A、系统误差按其产生的原因可分为仪器误差、方法误差和操作误差等B、系统误差可以用对照试验、空白试验、校正仪器等方法加以校正C、系统误差可以由仪器本身不够精密或未经校正等原因而引起D、在滴定分析中,滴定终点和理论终点不符合不会产生系统误差

系统误差可以用()、空白试验、校正仪器等方法加以校正。A、对照试验B、滴定试验C、多次平行测定D、二次平行测定

系统误差可以用对照试验、空白试验、()等方法加以校正。A、多次平行测定B、二次平行试验C、校正仪器D、滴定试验

用对照分析可以校正由于仪器不精密所造成的误差。

用对照分析法可以校正由于仪器不精密所造成的误差。()

下列方法中()可以减少分析中的偶然误差。A、进行空白试验B、进行对照试验C、仪器进行校正D、增加平行测定次数

用对照分析法可以校正由()不够准确所引起的误差。

仪器不准确产生的误差常采用()来消除。A、校正仪器B、对照试验C、空白试验D、回收率试验

由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A、对照分析B、空白试验C、增加平行试验D、校正仪器

单选题仪器不准确产生的误差常采用()来消除。A校正仪器B对照试验C空白试验D回收率试验

单选题由于试剂中含有干扰杂质所产生的系统误差,应通过()来消除。A对照分析B空白试验C增加平行试验D校正仪器

判断题用对照分析法可以校正由仪器不够准确所引起的误差A对B错

判断题仪器误差可以用对照试验的方法来校正A对B错