()应用延伸度法对缺陷进行定量。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.点状缺陷D.平面型缺陷
当量法适用于()。A.大于声束截面的缺陷B.小于声束截面的缺陷C.水平裂纹和斜裂纹D.纵向裂纹
当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷() 此题为判断题(对，错)。
在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。
超声波检测锻件时， 当缺陷尺寸小于声束截面时，一般可采用（）。A、 6dB法B、 绝对灵敏度法C、 当量法D、 以上都对
在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。
在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用当量法定量。
使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A、小于实际尺寸B、接近声束宽度C、稍大于实际尺寸D、等于晶片尺寸
对于小于声束截面的缺陷可用（）评定其大小。A、当量法B、缺陷回波高度法C、底面回波高度法D、延伸度定量评定法
接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。
（）应用延伸度法对缺陷进行定量.A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、点状缺陷D、平面型缺陷
接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法。A、6dBB、相对灵敏度C、绝对灵敏度D、12dB
当量法适用于（）A、大于声束截面的缺陷B、小于声束截面的缺陷C、水平裂纹和斜裂纹D、纵向裂纹
单选题接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法。A6dBB相对灵敏度C绝对灵敏度D12dB
单选题当量法适用于（）A大于声束截面的缺陷B小于声束截面的缺陷C水平裂纹和斜裂纹D纵向裂纹
填空题接触法超声波探伤，对大于声束直径的缺陷，可采用（）法或叫半波高度法测定其大小。
单选题（）应用延伸度法对缺陷进行定量.A大于声束截面的缺陷B小于声束截面的缺陷C点状缺陷D平面型缺陷
判断题当量法制只适用于测量线度远小于声束截面的缺陷。A对B错
填空题接触法探伤，对大于声束直径的缺陷，可用（）法或叫半波高度法测定缺陷大小。
判断题当量法用来测量大于声束截面的缺陷的尺寸。A对B错
判断题半波高度法用来测量小于声束截面的缺陷的尺寸。A对B错
判断题在锻件检测中，对于尺寸大于声束截面的缺陷一般采用半波高度法测定缺陷的指示长度或面积。A对B错
判断题在锻件检测中， 对于尺寸小于声束截面的缺陷一般采用测长法来测定缺陷的指示面积。A对B错
单选题使用半波高度法测定小于声束直径的缺陷尺寸时，所测的结果：（）A小于实际尺寸B接近声束宽度C稍大于实际尺寸D等于晶片尺寸